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真空断路纳米与微晶CuCr25触头材料电性能比较研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第10-20页
    1.1 选题背景及意义第10-11页
    1.2 课题背景及国内外研究现状第11-19页
    1.3 课题设想和预期目标第19-20页
2 热压和 SPS 烧结的纳米与微晶 CuCr25 触头材料第20-25页
    2.1 热压烧结法制备的 CuCr25 触头材料第20-21页
    2.2 SPS 法制备的 CuCr25 触头材料第21-22页
    2.3 触头材料加工与封装第22-24页
    2.4 小结第24-25页
3 纳米及微晶 CuCr25 触头材料真空灭弧室电性能试验方案第25-39页
    3.1 交流耐压试验第25页
    3.2 截流试验第25-27页
    3.3 分断能力试验第27-37页
    3.4 小结第37-39页
4 两批纳米与微晶 CuCr25 触头材料真空灭弧室电性能试验结果第39-49页
    4.1 耐压试验结果第39页
    4.2 截流试验结果第39-40页
    4.3 分断能力试验结果第40-43页
    4.4 纳米及微晶 CuCr25 触头表面形貌分析第43-47页
    4.5 小结第47-49页
5 分析与讨论第49-53页
    5.1 纳米与微晶 CuCr25 触头材料参数对电性能的影响第49-51页
    5.2 纳米及微晶 CuCr25 触头表面形貌分析第51-52页
    5.3 小结第52-53页
6 总结与展望第53-54页
    6.1 总结第53页
    6.2 展望第53-54页
致谢第54-55页
参考文献第55-59页
附录 攻读硕士学位期间发表的论文第59页

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