| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1．1 ADSL现状及需要解决的问题 | 第10-11页 |
| 1．2 现有ADSL测试仪表及其特点 | 第11-13页 |
| 1．2．1 ADSL测试仪分类 | 第11-12页 |
| 1．2．2 目前ADSL测试仪表的状况及不足之处 | 第12-13页 |
| 1．3 本论文的研究目的、意义及主要研究内容 | 第13-15页 |
| 1．3．1 课题的提出 | 第13-14页 |
| 1．3．2 本文的研究内容 | 第14-15页 |
| 1．4 本章小结 | 第15-16页 |
| 2 ADSL基础知识 | 第16-36页 |
| 2．1 ADSL技术概述 | 第16-20页 |
| 2．1．1 ADSL接入体系 | 第16-17页 |
| 2．1．2 ADSL的调制方式 | 第17-19页 |
| 2．1．3 ADSL标准化情况 | 第19-20页 |
| 2．2 DMT方式下的ADSL | 第20-21页 |
| 2．3 影响ADSL传输质量的因素 | 第21-22页 |
| 2．4 线路自身因素分析 | 第22-27页 |
| 2．4．1 双绞线的物理特性和电气特性 | 第22-24页 |
| 2．4．2 传输线路参数定义 | 第24-25页 |
| 2．4．3 线路衰减对传输性能的影响 | 第25-26页 |
| 2．4．4 桥接抽头的影响 | 第26-27页 |
| 2．5 环境因素分析 | 第27-30页 |
| 2．5．1 串音 | 第27-29页 |
| 2．5．2 射频干扰 | 第29-30页 |
| 2．5．3 脉冲噪声及其他干扰 | 第30页 |
| 2．6 ADSL的测试 | 第30-35页 |
| 2．6．1 测试项目分类及要求 | 第30-32页 |
| 2．6．2 测试流程及测试工作模式 | 第32-34页 |
| 2．6．3 测试环路 | 第34-35页 |
| 2．7 本章小结 | 第35-36页 |
| 3 测试方法、原理及仿真 | 第36-53页 |
| 3．1 测试方法简述 | 第36页 |
| 3．2 自适应信号处理的原理及其应用 | 第36-40页 |
| 3．2．1 横向自适应滤波器的结构及性能函数 | 第37-38页 |
| 3．2．2 LMS算法及电路实现 | 第38-40页 |
| 3．3 自适应测试方法原理 | 第40-42页 |
| 3．3．1 自适应系统辨识 | 第40-41页 |
| 3．3．2 线路衰减特性测试原理 | 第41-42页 |
| 3．4 自适应测试算法的仿真 | 第42-49页 |
| 3．4．1 仿真模型的建立 | 第42-43页 |
| 3．4．2 测试序列的产生 | 第43-44页 |
| 3．4．3 信道模型的建立 | 第44-45页 |
| 3．4．4 串音模型的建立 | 第45-48页 |
| 3．4．5 其他干扰的模型 | 第48-49页 |
| 3．5 仿真结果分析 | 第49-52页 |
| 3．5．1 仿真结果 | 第49-51页 |
| 3．5．2 信道容量的分析 | 第51-52页 |
| 3．6 本章小结 | 第52-53页 |
| 4 系统整体设计 | 第53-75页 |
| 4．1 系统设计原则及总体规划 | 第53-54页 |
| 4．2 芯片的选择 | 第54-56页 |
| 4．3 DSP及其配置电路的设计 | 第56-61页 |
| 4．3．1 TMS320C6203B简介 | 第56-60页 |
| 4．3．2 DSP的配置电路 | 第60-61页 |
| 4．4 ADSL前端电路设计 | 第61-68页 |
| 4．4．1 TLFD600简介 | 第61-63页 |
| 4．4．2 SPI接口及传输时序 | 第63-67页 |
| 4．4．3 TMS320C6203B端McBSP0数据处理 | 第67-68页 |
| 4．5 存储器接口设计 | 第68-74页 |
| 4．5．1 Am29LV800B简介 | 第68-69页 |
| 4．5．2 TMS320C6203B与Am29LV800B的EMIF接口 | 第69-71页 |
| 4．5．3 空间控制寄存器的配置 | 第71-74页 |
| 4．6 本章小节 | 第74-75页 |
| 5 软件设计 | 第75-93页 |
| 5．1 整体软件框架 | 第75-76页 |
| 5．2 开发工具介绍 | 第76-80页 |
| 5．2．1 使用CCS开发流程 | 第76-77页 |
| 5．2．2 DSP／BIOS配置 | 第77-79页 |
| 5．2．3 RTDX技术 | 第79-80页 |
| 5．3 各个功能模块实现 | 第80-84页 |
| 5．3．1 FLASH擦除与编程 | 第80-81页 |
| 5．3．2 测试端目标板DSP程序的实现 | 第81-82页 |
| 5．3．3 上位机程序的实现 | 第82-84页 |
| 5．4 关键算法的实现 | 第84-92页 |
| 5．4．1 LMS算法实现 | 第84-85页 |
| 5．4．2 2N点实序列DFT | 第85-88页 |
| 5．4．3 基4的FFT的实现 | 第88-92页 |
| 5．5 本章小结 | 第92-93页 |
| 6 总结 | 第93-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-99页 |
| 附录 | 第99页 |