CMOS全差分放大器的研究与设计
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 课题研究的目的与意义 | 第9-11页 |
| 1.3 国内外研究现状与发展趋势 | 第11-15页 |
| 1.4 主要工作和论文体系结构 | 第15-17页 |
| 第二章 基本原理与性能分析 | 第17-26页 |
| 2.1 基本原理 | 第17-19页 |
| 2.2 主要性能分析 | 第19-25页 |
| 2.2.1 开环直流增益的性能分析 | 第19-20页 |
| 2.2.2 单位增益带宽的性能分析 | 第20-21页 |
| 2.2.3 相位裕度和建立时间的性能分析 | 第21-23页 |
| 2.2.4 噪声的性能分析 | 第23-24页 |
| 2.2.5 压摆率和最大输出摆幅的性能分析 | 第24-25页 |
| 2.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 运放结构的比较分析与确定 | 第26-34页 |
| 3.1 运放的基本结构分析 | 第26-28页 |
| 3.2 共源-共栅结构分析 | 第28-32页 |
| 3.2.1 套筒式共源-共栅结构分析 | 第29-30页 |
| 3.2.2 折叠式共源-共栅结构的确定 | 第30-32页 |
| 3.3 其他结构 | 第32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第四章 全差分运算放大器的设计与仿真 | 第34-54页 |
| 4.1 总体结构设计 | 第34-35页 |
| 4.2 偏置电路的设计与仿真 | 第35-37页 |
| 4.3 两级运放设计与仿真 | 第37-39页 |
| 4.4 共模反馈和前馈级的设计与分析 | 第39-41页 |
| 4.5 总体仿真与分析 | 第41-50页 |
| 4.5.1 增益和相位裕度参数分析 | 第43-44页 |
| 4.5.2 转换速率的分析 | 第44-46页 |
| 4.5.3 建立时间的分析 | 第46-48页 |
| 4.5.4 共模抑制比的分析 | 第48-49页 |
| 4.5.5 电源抑制比的分析 | 第49-50页 |
| 4.6 版图的绘制与分析 | 第50-52页 |
| 4.7 版图的验证 | 第52页 |
| 4.8 本章小结 | 第52-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
