基于双谱的辐射源个体识别技术
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第9-10页 |
| 缩略语对照表 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2.1 辐射源个体识别现状 | 第14-15页 |
| 1.2.2 双谱特征提取识别现状 | 第15页 |
| 1.3 论文主要内容和工作安排 | 第15-17页 |
| 第二章 辐射源指纹产生机理 | 第17-23页 |
| 2.1 辐射源个体识别系统 | 第17页 |
| 2.2 辐射源个体特征 | 第17-21页 |
| 2.2.1 辐射源个体特征的概念 | 第17-18页 |
| 2.2.2 辐射源个体特征产生机理 | 第18-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 高阶统计特性分析 | 第23-31页 |
| 3.1 高阶统计特性 | 第23-25页 |
| 3.1.1 随机变量的特征函数 | 第23页 |
| 3.1.2 高阶矩的定义 | 第23-24页 |
| 3.1.3 高阶累积量 | 第24页 |
| 3.1.4 高阶矩与高阶累积量的关系 | 第24-25页 |
| 3.1.5 高阶累积量的性质 | 第25页 |
| 3.2 高阶谱 | 第25-28页 |
| 3.2.1 高阶谱简介 | 第25-26页 |
| 3.2.2 高阶谱定义 | 第26页 |
| 3.2.3 双谱的定义和性质 | 第26-27页 |
| 3.2.4 双谱估计方法 | 第27-28页 |
| 3.3 高斯白噪声信号的双谱仿真 | 第28-30页 |
| 3.4 双谱分析工具简介 | 第30页 |
| 3.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 基于双谱的辐射源个体识别 | 第31-47页 |
| 4.1 局部积分双谱 | 第31-36页 |
| 4.2 矩形积分双谱性能分析 | 第36-38页 |
| 4.2.1 基于矩形积分双谱识别 | 第36-38页 |
| 4.2.2 矩形积分双谱算法存在的问题 | 第38页 |
| 4.3 改进矩形双谱的特征提取 | 第38-41页 |
| 4.3.1 改进思路及方法步骤 | 第38-39页 |
| 4.3.2 性能分析 | 第39-41页 |
| 4.4 矩形双谱维数约简 | 第41-45页 |
| 4.4.1 主元成分分析和核成分分析 | 第41-42页 |
| 4.4.2 成分分析的改进方案 | 第42-43页 |
| 4.4.3 性能分析 | 第43-45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-47页 |
| 第五章 总结和展望 | 第47-49页 |
| 5.1 总结 | 第47页 |
| 5.2 展望 | 第47-49页 |
| 参考文献 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 作者简介 | 第53-54页 |
