| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 频率选择表面简介 | 第9页 |
| 1.2 频率选择表面的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.3 频率选择表面的研究现状 | 第10-12页 |
| 1.4 频率选择表面的应用 | 第12-14页 |
| 1.5 论文主要内容及章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 频率选择表面原理分析 | 第16-34页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 频率选择表面的基本概念 | 第16-18页 |
| 2.3 频率选择表面的基本理论 | 第18-26页 |
| 2.3.1 频率选择表面工作原理分析 | 第18-21页 |
| 2.3.2 Floquet定理简介 | 第21-23页 |
| 2.3.3 栅瓣 | 第23-26页 |
| 2.4 频率选择表面的结构类型 | 第26-30页 |
| 2.4.1 频率选择表面的基本单元 | 第26-27页 |
| 2.4.2 频率选择表面的单元排列形式 | 第27-29页 |
| 2.4.3 频率选择表面的基本结构 | 第29-30页 |
| 2.5 频率选择表面的技术指标 | 第30-31页 |
| 2.6 频率选择表面的特性参数及其影响 | 第31-32页 |
| 2.6.1 单元结构和尺寸 | 第31页 |
| 2.6.2 单元间距和排列方式 | 第31页 |
| 2.6.3 介质加载 | 第31-32页 |
| 2.6.4 入射波角度和极化方式 | 第32页 |
| 2.7 频率选择表面关键技术 | 第32-34页 |
| 2.7.1 小型化技术 | 第32-33页 |
| 2.7.2 多频段和宽带技术 | 第33-34页 |
| 第三章 频率选择表面分析和测试方法 | 第34-41页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 近似分析方法 | 第34-35页 |
| 3.2.1 等效电路法 | 第34页 |
| 3.2.2 变分法 | 第34-35页 |
| 3.3 严格分析方法 | 第35-37页 |
| 3.3.1 有限元法 | 第35-37页 |
| 3.3.2 模式匹配法 | 第37页 |
| 3.4 测试方法 | 第37-41页 |
| 3.4.1 波导测试法 | 第37-38页 |
| 3.4.2 自由空间测试方法 | 第38-41页 |
| 第四章 一种新型性能稳定的双频段频率选择表面设计 | 第41-55页 |
| 4.1 引言 | 第41页 |
| 4.2 新型单元的设计及实现 | 第41-44页 |
| 4.3 仿真与结果分析 | 第44-54页 |
| 4.4 结论 | 第54-55页 |
| 第五章 一种应用于K/Ka波段的新型频率选择表面设计 | 第55-66页 |
| 5.1 引言 | 第55页 |
| 5.2 设计与仿真分析 | 第55-62页 |
| 5.2.1 新型频率选择表面单元结构 | 第55-56页 |
| 5.2.2 新型频率选择表面宽带特性分析 | 第56-59页 |
| 5.2.3 新型频率选择表面极化稳定性分析 | 第59-62页 |
| 5.3 加工与测试 | 第62-64页 |
| 5.4 结论 | 第64-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-67页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第66页 |
| 6.2 工作展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第73页 |