高稳定性Si APD单光子探测器研制
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 研究概述 | 第11-17页 |
| 1.1 单光子探测器的发展现状 | 第11-14页 |
| 1.2 单光子探测器的研究意义 | 第14-17页 |
| 第二章 APD单光子探测技术 | 第17-23页 |
| 2.1 APD单光子探测原理 | 第17页 |
| 2.2 单光子探测器性能指标 | 第17-19页 |
| 2.3 APD雪崩抑制技术 | 第19-21页 |
| 2.4 APD雪崩增益稳定技术 | 第21-22页 |
| 2.5 小结 | 第22-23页 |
| 第三章 盖革APD性能测试装置 | 第23-33页 |
| 3.1 测试装置硬件电路设计 | 第23-29页 |
| 3.1.1 APD温度控制模块 | 第25页 |
| 3.1.2 电容平衡抑制APD尖峰噪声 | 第25-26页 |
| 3.1.3 基于AD9500的延时电路 | 第26-28页 |
| 3.1.4 数据采集卡USB-6341 | 第28-29页 |
| 3.2 测试装置软件编程与调试 | 第29-32页 |
| 3.2.1 基于LabVIEW的测试程序 | 第29-31页 |
| 3.2.2 程序与电路板的联调 | 第31-32页 |
| 3.3 小结 | 第32-33页 |
| 第四章 模拟偏压补偿单光子探测器研制 | 第33-43页 |
| 4.1 模拟偏压补偿单光子探测器介绍 | 第33-39页 |
| 4.1.1 单光子探测器探测电路原理 | 第34-36页 |
| 4.1.2 温度控制模块 | 第36页 |
| 4.1.3 模拟偏压补偿模块 | 第36-39页 |
| 4.2 探测器性能测试与结果分析 | 第39-41页 |
| 4.2.1 探测器性能测试 | 第39-41页 |
| 4.2.2 测试结果分析 | 第41页 |
| 4.3 小结 | 第41-43页 |
| 第五章 数字偏压补偿单光子探测器研制 | 第43-57页 |
| 5.1 数字偏压补偿单光子探测器介绍 | 第43-51页 |
| 5.1.1 探测器电路优化 | 第43-45页 |
| 5.1.2 基于单片机的数字偏压补偿模块 | 第45-49页 |
| 5.1.3 探测器外壳设计 | 第49-51页 |
| 5.2 探测器性能测试实验 | 第51-56页 |
| 5.2.1 实验装置搭建 | 第51-52页 |
| 5.2.2 探测器性能测试与分析 | 第52-56页 |
| 5.3 小结 | 第56-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 6.1 本文工作重点 | 第57-58页 |
| 6.2 展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 硕士期间成果与奖励 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
