Ka波段MMIC驱动级放大器芯片设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 Ka波段MMIC国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3 本论文的主要工作 | 第15页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 MMIC工艺介绍 | 第17-27页 |
| 2.1 pHEMT器件模型 | 第17-24页 |
| 2.1.1 pHEMT的结构 | 第17-18页 |
| 2.1.2 有源器件模型 | 第18-20页 |
| 2.1.3 无源器件模型 | 第20-24页 |
| 2.2 MMIC工艺及设计流程 | 第24-26页 |
| 2.2.1 MMIC工艺流程 | 第24-25页 |
| 2.2.2 MMIC设计流程 | 第25-26页 |
| 2.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 放大器设计理论 | 第27-42页 |
| 3.1 放大器主要性能指标 | 第27-34页 |
| 3.1.1 S参数 | 第27-28页 |
| 3.1.2 稳定性 | 第28-30页 |
| 3.1.3 功率增益和输出功率 | 第30-31页 |
| 3.1.4 效率和功率附加效率 | 第31-32页 |
| 3.1.5 非线性特性 | 第32-34页 |
| 3.2 最优化阻抗设计 | 第34-37页 |
| 3.2.1 负载线理论 | 第34-36页 |
| 3.2.2 负载牵引 | 第36-37页 |
| 3.2.3 源牵引 | 第37页 |
| 3.3 阻抗匹配网络设计 | 第37-41页 |
| 3.3.1 L型匹配网络 | 第37-38页 |
| 3.3.2 T型和 π 型匹配网络 | 第38页 |
| 3.3.3 分布式匹配网络 | 第38-39页 |
| 3.3.4 宽带阻抗匹配网络理论 | 第39-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 MMIC驱动级放大器芯片设计 | 第42-70页 |
| 4.1 芯片设计指标 | 第42页 |
| 4.2 芯片电路方案及设计 | 第42-58页 |
| 4.2.1 设计工艺的选择 | 第42-44页 |
| 4.2.2 芯片整体电路方案 | 第44页 |
| 4.2.3 pHEMT管芯参数的选择 | 第44-45页 |
| 4.2.4 pHEMT直流偏置点的选择 | 第45-46页 |
| 4.2.5 pHEMT的源极自偏置电路设计 | 第46-47页 |
| 4.2.6 稳定性改善方法 | 第47-49页 |
| 4.2.7 芯片阻抗匹配网络设计 | 第49-58页 |
| 4.3 芯片性能电路仿真 | 第58-64页 |
| 4.3.1 芯片原理图 | 第58页 |
| 4.3.2 芯片性能电路仿真环境设置 | 第58-61页 |
| 4.3.3 芯片性能电路仿真结果 | 第61-63页 |
| 4.3.4 芯片性能电路仿真结论 | 第63-64页 |
| 4.4 芯片性能电磁仿真 | 第64-69页 |
| 4.4.1 芯片版图 | 第64-65页 |
| 4.4.2 芯片性能电磁仿真环境设置 | 第65页 |
| 4.4.3 芯片性能电磁仿真结果 | 第65-68页 |
| 4.4.4 芯片性能电磁仿真结论 | 第68-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 MMIC驱动级放大器芯片测试 | 第70-78页 |
| 5.1 芯片性能在片测试方案 | 第70-71页 |
| 5.1.1 芯片性能测试内容 | 第70页 |
| 5.1.2 芯片性能测试方法 | 第70-71页 |
| 5.2 芯片性能在片测试结果 | 第71-76页 |
| 5.2.1 芯片实测照片 | 第71-72页 |
| 5.2.2 直流工作点测试 | 第72-73页 |
| 5.2.3 S参数测试结果 | 第73-74页 |
| 5.2.4 稳定性测试结果 | 第74-75页 |
| 5.2.5 功率特性测试结果 | 第75-76页 |
| 5.3 芯片性能在片测试结论 | 第76-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 MMIC驱动级放大器模块设计与测试 | 第78-90页 |
| 6.1 模块的设计与装配 | 第78-83页 |
| 6.1.1 模块PCB的设计 | 第78-80页 |
| 6.1.2 模块腔体设计 | 第80页 |
| 6.1.3 模块性能仿真结果 | 第80-82页 |
| 6.1.4 模块的装配 | 第82页 |
| 6.1.5 模块实物图 | 第82-83页 |
| 6.2 模块性能测试方案 | 第83-84页 |
| 6.2.1 模块性能测试内容 | 第83页 |
| 6.2.2 模块性能测试方法 | 第83-84页 |
| 6.3 模块性能测试结果 | 第84-89页 |
| 6.3.1 直流工作点测试 | 第84-85页 |
| 6.3.2 S参数测试结果 | 第85-86页 |
| 6.3.3 稳定性测试结果 | 第86-87页 |
| 6.3.4 功率特性测试结果 | 第87-89页 |
| 6.4 模块设计结论 | 第89页 |
| 6.5 本章小结 | 第89-90页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第90-93页 |
| 7.1 全文总结 | 第90-91页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-96页 |
| 附录I | 第96-97页 |
