| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-14页 |
| 第一章 引言 | 第14-22页 |
| ·研究背景及意义 | 第14-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第15-20页 |
| ·本论文的主要工作内容 | 第20-22页 |
| 第二章 干涉条纹的形成机制 | 第22-32页 |
| ·基本原理 | 第22-29页 |
| ·CCD结构与干涉条纹的产生 | 第29-32页 |
| 第三章 NVST成像系统干涉条纹实测特性 | 第32-46页 |
| ·NVST成像系统简介 | 第32-36页 |
| ·干涉条纹的空间时间变化特性 | 第36-42页 |
| ·讨论 | 第42-46页 |
| 第四章 NVST成像系统干涉条纹的消除 | 第46-64页 |
| ·硬件消除法 | 第46-48页 |
| ·算法消除法 | 第48-60页 |
| ·图像滤波技术简介 | 第48-50页 |
| ·方法应用及结果 | 第50-54页 |
| ·讨论与结果分析 | 第54-60页 |
| ·太阳活动区实时平场获取新方法讨论 | 第60-64页 |
| 第五章 总结和展望 | 第64-66页 |
| ·总结 | 第64页 |
| ·展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 发表文章目录 | 第72-74页 |
| 简历 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |