辐射源尺寸效应及辐射温度计检定的影响因素研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目次 | 第9-11页 |
| 图清单 | 第11-12页 |
| 表清单 | 第12-13页 |
| 1 绪论 | 第13-24页 |
| ·研究背景及意义 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-21页 |
| ·辐射温度计发展及检定技术 | 第14-19页 |
| ·辐射源尺寸效应的研究现状 | 第19-21页 |
| ·辐射温度计检定待解决的问题 | 第21页 |
| ·本论文的主要内容 | 第21-24页 |
| 2 辐射测温的理论基础 | 第24-34页 |
| ·黑体辐射定律 | 第24-25页 |
| ·普朗克定律 | 第24页 |
| ·维恩位移定律 | 第24-25页 |
| ·斯忒潘-波尔兹曼定律 | 第25页 |
| ·辐射温度计测温原理 | 第25-28页 |
| ·辐射温度计的构成 | 第25-27页 |
| ·辐射温度计精确测温模型 | 第27-28页 |
| ·黑体空腔有效温度理论 | 第28-33页 |
| ·基于多次反射理论的有效温度 | 第28-32页 |
| ·基于积分方程理论的有效温度 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 3 辐射源尺寸效应（SSE）系数的测量 | 第34-48页 |
| ·SSE 系数测量理论 | 第34-36页 |
| ·SSE 系数测量实验及分析 | 第36-41页 |
| ·实验装置 | 第36-38页 |
| ·SSE 实验 | 第38-40页 |
| ·实验分析及结论 | 第40-41页 |
| ·软件系统设计 | 第41-44页 |
| ·用户登录系统 | 第42页 |
| ·数据处理系统 | 第42-44页 |
| ·不确定度评定 | 第44-47页 |
| ·SSE 系数测量数学模型 | 第44页 |
| ·黑体辐射源温度变化不确定度 | 第44-45页 |
| ·环境温度变化不确定度 | 第45-46页 |
| ·黑体空腔有效发射率不确定 | 第46页 |
| ·合成标准不确定度 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 4 辐射源尺寸效应（SSE）的修正 | 第48-53页 |
| ·SSE 修正公式的理论推导 | 第48-50页 |
| ·SSE 修正分析 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 5 辐射温度计检定的影响因素研究 | 第53-69页 |
| ·测量距离 | 第53-55页 |
| ·瞄准问题 | 第55-60页 |
| ·黑体空腔轴向温场分布实验 | 第56-58页 |
| ·瞄准腔底和腔口的对比实验 | 第58-60页 |
| ·附加光阑 | 第60页 |
| ·其它影响因素 | 第60-67页 |
| ·发射率偏差对检定影响分析 | 第61-64页 |
| ·探测器热辐射对检定影响的分析 | 第64-65页 |
| ·反射辐射对检定影响分析 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 6 总结与展望 | 第69-72页 |
| ·总结 | 第69-70页 |
| ·展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 作者简历 | 第75页 |
