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多模态原子力显微镜控制系统研制及实验

致谢第1-8页
摘要第8-9页
ABSTRACT第9-16页
第一章 绪论第16-25页
   ·前言第16-17页
   ·扫描隧道显微镜第17-19页
     ·扫描隧道显微镜的工作原理第17-18页
     ·STM 的特点第18-19页
   ·原子力显微镜第19-23页
     ·AFM 的作用机制第19-20页
     ·AFM 的成像模式及其特点第20-22页
     ·AFM 悬臂偏转的检测方法第22-23页
   ·课题来源及研究内容第23-25页
     ·课题的来源第23-24页
     ·课题研究的内容第24-25页
第二章 多模态 AFM 系统构成第25-28页
   ·系统工作原理第25-27页
   ·多模态 AFM 系统组成第27-28页
第三章 多模态 AFM 控制系统与数据采集第28-38页
   ·多模态 AFM 电子控制系统第28-29页
   ·悬臂振幅信号的检测第29-34页
     ·光杠杆法检测探针偏转第29-30页
     ·光电信号的检测和调理电路第30-31页
     ·电路对信号的运算处理第31-32页
     ·有效值转换电路第32-33页
     ·复合模式低通滤波电路第33页
     ·数据采集第33-34页
   ·直流电机驱动电路第34-35页
   ·工作台的三维运动第35-38页
     ·压电陶瓷管第35-36页
     ·高压直流电压源第36-38页
第四章 多模态 AFM 系统控制软件设计第38-50页
   ·面向对象的软件设计第38页
   ·扫频软件设计第38-40页
   ·直流电机驱动程序第40-41页
   ·探针-试样自动逼近以及力曲线测试程序设计第41-44页
     ·探针-试样自动逼近程序第41-42页
     ·力曲线测试程序第42-44页
   ·PI 参数测试软件第44-46页
   ·三维扫描成像程序第46-48页
   ·台阶测试程序第48-50页
第五章 多模态 AFM 系统性能测试第50-69页
   ·系统整体结构第50-52页
   ·系统噪声测试第52-54页
     ·采集卡噪声测试第52页
     ·工作台噪声测试第52-53页
     ·系统整体噪声测试第53-54页
   ·探针扫频测试第54-57页
   ·探针与试样的自动逼近以及力曲线测试第57-59页
   ·PI 测试数据第59-60页
   ·光栅试样三维扫描第60-61页
   ·影响扫描速度的主要因素以及相关测试结果第61-66页
     ·电路响应时间第61-62页
     ·工作台响应时间第62-63页
     ·数据采集卡采集速度第63页
     ·探针悬臂机械振动瞬时响应第63-64页
     ·AFM 系统的响应时间测试第64-65页
     ·一阶二阶扫描结果比对第65-66页
   ·台阶测试第66-69页
第六章 结论第69-71页
参考文献第71-73页
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况第73-74页

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