| 第一章 绪论 | 第1-17页 |
| 1．1 前言 | 第12-13页 |
| 1．2 测量方法简介 | 第13-16页 |
| 1．3 论文目的 | 第16页 |
| 1．4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 光散射法测量颗粒粒度与形状原理 | 第17-32页 |
| 2．1 前言 | 第17页 |
| 2．2 散射光强的振幅函数和强度函数 | 第17-19页 |
| 2．3 光的散射与吸收 | 第19-20页 |
| 2．4 Lambert-beer定律 | 第20-21页 |
| 2．5 单散射与复散射 | 第21页 |
| 2．6 颗粒光散射理论 | 第21-25页 |
| 2．6．1 米氏散射理论（Mie Scattering） | 第23页 |
| 2．6．2 瑞利散射理论（Ray leigh scattering） | 第23-24页 |
| 2．6．3 夫朗和费衍射理论（Fraunhofer Diffraction） | 第24-25页 |
| 2．7 光散射粒度测量典型装置 | 第25-27页 |
| 2．7．1 透镜前傅里叶变换型 | 第25-26页 |
| 2．7．2 透镜后傅里叶变换型 | 第26页 |
| 2．7．3 前、后向散射光同时接收型 | 第26-27页 |
| 2．8 光检测环尺寸参数设计 | 第27-28页 |
| 2．9 颗粒形状测量 | 第28-31页 |
| 2．9．1 形状的表征方法 | 第29-30页 |
| 2．9．1．1 定性描述 | 第29页 |
| 2．9．1．2 定量描述 | 第29-30页 |
| 2．9．2 形状测量方法 | 第30-31页 |
| 2．9．2．1 图象法 | 第30页 |
| 2．9．2．2 衍射谱法 | 第30-31页 |
| 2．10 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 模拟方案与试验设计 | 第32-47页 |
| 3．1 光散射谱的离散方法 | 第32-38页 |
| 3．1．1 基于夫朗和费衍射的数学模型 | 第33-35页 |
| 3．1．2 基于米氏散射数学模型 | 第35-38页 |
| 3．1．2．1 π~n,τ~n的计算 | 第36-37页 |
| 3．1．2．2 α~n，β~n的计算 | 第37-38页 |
| 3．2 求解方案 | 第38-44页 |
| 3．2．1 反问题的求解 | 第39-41页 |
| 3．2．2 hirleman的正则化方法 | 第41-42页 |
| 3．2．3 本文使用的算法 | 第42-44页 |
| 3．2．3．1 PT算法 | 第42-43页 |
| 3．2．3．2 Chahine迭代算法 | 第43-44页 |
| 3．3 模拟工具 | 第44页 |
| 3．4 粒度测量模拟方案设计 | 第44-45页 |
| 3．5 形状测量模拟方案 | 第45-46页 |
| 3．6 试验方案设计 | 第46页 |
| 3．7 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 模拟试验及其结果分析 | 第47-63页 |
| 4．1 反演算法筛选 | 第47-50页 |
| 4．1．1 单峰分布 | 第48-49页 |
| 4．1．2 双峰分布 | 第49-50页 |
| 4．2 散射光谱（光电检测器分环）的截断误差分析 | 第50-55页 |
| 4．2．1 截断误差分布 | 第51-53页 |
| 4．2．2 截断误差即分环数的影响 | 第53页 |
| 4．2．3 随机误差 | 第53-55页 |
| 4．3 误差容限模拟分析 | 第55-56页 |
| 4．4 基于Mie理论的正则化反演模拟 | 第56-58页 |
| 4．5 测量粒度限度的模拟研究 | 第58-62页 |
| 4．6 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 超大颗粒分辨率的提高 | 第63-71页 |
| 5．1 前言 | 第63-64页 |
| 5．2 颗粒粒度随机发生器 | 第64-66页 |
| 5．3 随机发生器结合Hirleman理论模拟 | 第66页 |
| 5．4 分辨率的提高 | 第66-67页 |
| 5．5 影响反演结果的几个因素 | 第67-69页 |
| 5．6 模拟中的翘尾 | 第69-70页 |
| 5．7 本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 实测试验 | 第71-90页 |
| 6．1 试验装置 | 第71-76页 |
| 6．1．1 样品槽 | 第72页 |
| 6．1．2 光电接收器 | 第72-75页 |
| 6．1．2．1 CCD | 第72-73页 |
| 6．1．2．2 CMOS | 第73-75页 |
| 6．1．3 数据采集卡 | 第75-76页 |
| 6．2 软件 | 第76-78页 |
| 6．3 光强标定 | 第78-80页 |
| 6．4 光学系统校准 | 第80-81页 |
| 6．5 信号处理 | 第81-82页 |
| 6．6 光学系统的稳定性 | 第82-83页 |
| 6．7 粒度测量试验 | 第83-85页 |
| 6．7．1 标准粒子板 | 第83-84页 |
| 6．7．2 重复性试验 | 第84页 |
| 6．7．3 与其它光粒度仪的比较 | 第84-85页 |
| 6．7．4 分辨率 | 第85页 |
| 6．8 形状测量试验 | 第85-89页 |
| 6．8．1 测试装置及模型建立 | 第85-87页 |
| 6．8．2 楔形探测单元上光强相关系数的数值模拟 | 第87-88页 |
| 6．8．3 标准粒子板试验 | 第88-89页 |
| 6．9 本章小结 | 第89-90页 |
| 第七章 结论与展望 | 第90-92页 |
| 7．1 结论 | 第90-91页 |
| 7．2 展望 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-97页 |
| 致谢 | 第97页 |
