我国专利集中度测度指标研究

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-8页
1 绪论	第8-17页
·研究背景及意义	第8-11页
·国内外研究现状	第11-14页
·研究内容及方法	第14-15页
·论文框架	第15-17页
2 专利集中度测度研究现状及其存在的问题	第17-21页
·专利集中度测度研究现状	第17-19页
·专利集中度测度研究存在的问题	第19-21页
3 专利集中度研究的理论和方法	第21-37页
·集中度研究的理论	第21-25页
·产业组织学集中度测度方法及评价	第25-32页
·专利领域集中度测度方法及评价	第32-37页
4 从权利人角度的集中度测度方法的验证	第37-53页
·基于国内高校专利情况的集中度测度指标的验证	第37-45页
·基于我国各地区专利情况的集中度测度指标的验证	第45-52页
·集中度测度指标的选择	第52-53页
5 以基因芯片为例的集中度测度方法的验证	第53-62页
·基因芯片技术专利发展概况	第53-56页
·基于基因芯片技术的集中度测度方法的验证	第56-59页
·数据结果及结论	第59-62页
6 研究结论与研究展望	第62-65页
·本研究的主要结论及进展	第62-63页
·研究不足及对未来研究的展望	第63-65页
致谢	第65-66页
参考文献	第66-68页