ADC测试技术研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 一、引言 | 第11-14页 |
| ·集成电路测试的背景,意义 | 第11页 |
| ·行业现状及发展方向 | 第11-13页 |
| ·论文的主要内容 | 第13-14页 |
| 二、集成电路测试技术简介 | 第14-22页 |
| ·集成电路概述 | 第14-15页 |
| ·集成电路测试原理 | 第15-18页 |
| ·集成电路的常用参数及测试方法 | 第18-22页 |
| 三、ADC芯片测试技术研究 | 第22-37页 |
| ·ADC芯片概述 | 第22-27页 |
| ·ADC的定义 | 第22页 |
| ·ADC的分类 | 第22-27页 |
| ·ADC芯片测试方法 | 第27-36页 |
| ·ADC芯片的性能参数 | 第27-28页 |
| ·静态参数测试方法 | 第28-31页 |
| ·动态参数测试方法 | 第31-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 四、ADC0804应用电路仿真 | 第37-46页 |
| ·ADC0804的工作原理及其性能指标 | 第37-40页 |
| ·通过软件仿真了解ADC0804的工作性能 | 第40-45页 |
| ·仿真电路设计 | 第40-42页 |
| ·仿真结果 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 五、ADC0804性能测试 | 第46-60页 |
| ·ADC0804测试概述 | 第46-47页 |
| ·ADC0804测试电路设计 | 第47-50页 |
| ·测试板的输入电路 | 第47-48页 |
| ·测试板的电源电压与接地 | 第48-49页 |
| ·测试板时钟信号 | 第49页 |
| ·芯片工作方式的选定 | 第49页 |
| ·测试板总的结构原理图 | 第49-50页 |
| ·测试电路PCB板的设计 | 第50-53页 |
| ·PCB板设计概述 | 第50页 |
| ·PCB板设计流程 | 第50-51页 |
| ·PCB板设计要点 | 第51-52页 |
| ·ADC0804测试电路的PCB板设计 | 第52-53页 |
| ·测试板调试及数据分析 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 六、结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 图索引 | 第64-65页 |
| 表索引 | 第65-66页 |
| 作者简历 | 第66-68页 |
| 学位论文数据集 | 第68页 |
