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基于LXI总线的星载电子设备通用测试系统设计

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·课题应用背景第7-8页
   ·国内外测试技术发展第8-9页
   ·课题主要工作及论文各章内容第9-11页
     ·课题主要研究工作第9-10页
     ·论文各章内容第10-11页
第二章 测试系统技术综述第11-23页
   ·几种测试总线的比较第11-14页
   ·市场现有测试设备适用性分析第14-15页
   ·LXI 总线技术第15-20页
     ·LXI 总线规范概述第15页
     ·LXI 总线设备分类第15-16页
     ·LXI 总线触发机制第16-18页
     ·LXI 总线其他特点第18页
     ·LXI 总线性能优势第18-20页
   ·星载电子设备测试需求分析第20-21页
   ·本章小结第21-23页
第三章 LXI 通用测试系统硬件设计第23-41页
   ·通用测试系统设计原则第23-24页
   ·通用测试系统组成架构第24-26页
   ·通用测试系统测试模式第26-28页
     ·单机测试模式第26-27页
     ·环境试验测试模式第27页
     ·分系统/整星联试测试模式第27-28页
   ·通用测试系统硬件设计第28-38页
     ·测试设备组成第28-31页
     ·测试模块设计第31-32页
     ·测试设备通用化设计第32-34页
     ·数字量模块设计第34-38页
     ·供配电设备设计第38页
   ·LXI 通用测试系统工程化实现第38-39页
   ·本章小结第39-41页
第四章 通用测试系统软件设计第41-47页
   ·LXI 通用测试模块嵌入式软件设计第41-43页
     ·LXI 的网络通信基本模式第41-42页
     ·嵌入式软件设计架构第42-43页
     ·自定义网络通信协议的实现第43页
   ·LXI 通用测试设备上位机软件的实现第43-44页
     ·编程 IDE 介绍第43-44页
     ·VISA 函数介绍第44页
   ·上位机界面显示第44-45页
   ·本章小结第45-47页
第五章 试验验证与应用第47-55页
   ·测试系统试验与分析第47-52页
   ·测试系统通用性试验与分析第52-54页
   ·本章小结第54-55页
第六章 结束语第55-57页
   ·全文工作总结第55页
   ·下一步工作设想第55-57页
致谢第57-59页
参考文献第59-61页

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