基于成像光谱技术土壤反射特性及剖面有机质分布估计
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 1. 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景与意义 | 第10-11页 |
| ·土壤光谱技术研究进展 | 第11-14页 |
| ·成像光谱技术的发展 | 第11页 |
| ·土壤光谱特性研究 | 第11-13页 |
| ·土壤光谱估计建模方法 | 第13-14页 |
| ·研究内容和技术路线 | 第14-16页 |
| ·研究内容 | 第14-15页 |
| ·技术路线 | 第15-16页 |
| 2. 数据获取与处理 | 第16-22页 |
| ·研究区概况 | 第16页 |
| ·土壤样品采集与处理 | 第16-18页 |
| ·SOM含量测定 | 第18页 |
| ·土壤成像光谱测定 | 第18-21页 |
| ·高光谱图像采集系统 | 第18-20页 |
| ·高光谱图像数据获取 | 第20-21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 3. 数据预处理与建模方法 | 第22-36页 |
| ·高光谱图像数据预处理 | 第22-24页 |
| ·土壤剖面的预处理 | 第22-23页 |
| ·盒样反射光谱的提取 | 第23-24页 |
| ·光谱数据预处理 | 第24-28页 |
| ·剔除噪声较大的波段 | 第25页 |
| ·光谱重采样 | 第25-26页 |
| ·SG平滑法 | 第26-27页 |
| ·导数光谱法 | 第27-28页 |
| ·光谱数据建模方法 | 第28-32页 |
| ·偏最小二乘回归(PLSR) | 第28-30页 |
| ·υ-支持向量回归(υ-SVR) | 第30-32页 |
| ·光谱预测模型评价 | 第32-33页 |
| ·异常值的去除 | 第33-35页 |
| ·马氏距离 | 第33-34页 |
| ·杠杆值VS学生化残差诊断 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 4. 土壤漫反射光谱响应特征 | 第36-42页 |
| ·土壤不同层次光谱反射特征 | 第36-38页 |
| ·土壤不同粒径光谱反射特征 | 第38-39页 |
| ·讨论 | 第39-41页 |
| ·土壤理化性质对光谱的影响 | 第39-40页 |
| ·土壤表面粗糙度对光谱的影响 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 5. SOM光谱估计建模 | 第42-51页 |
| ·SOM光谱预测模型 | 第42-47页 |
| ·SOM含量PLSR预测模型 | 第42-44页 |
| ·υ-支持向量机回归SOM含量估计模型 | 第44-46页 |
| ·二者的比较 | 第46-47页 |
| ·土壤剖面有机质含量估计 | 第47-49页 |
| ·讨论 | 第49-50页 |
| ·PLSR和υ-SVR的比较 | 第49页 |
| ·粒径对模型精度的影响 | 第49-50页 |
| ·土壤剖面有机质含量分布特点 | 第50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 6. 总结与展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-59页 |
| 攻读学位期间发表论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
