| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 图列表 | 第13-15页 |
| 表格列表 | 第15-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-40页 |
| ·GTEM室的产生 | 第16-18页 |
| ·GTEM室的国内外研究进展 | 第18-25页 |
| ·GTEM室特性阻抗的分析 | 第19-20页 |
| ·GTEM室中的场分析 | 第20-21页 |
| ·GTEM室的仿真分析 | 第21-22页 |
| ·GTEM室在测试领域的研究进展 | 第22-25页 |
| ·GTEM室的主要测试应用简介 | 第25-29页 |
| ·GTEM室在EMS测试中的应用 | 第26页 |
| ·GTEM室在天线测试中的应用 | 第26-27页 |
| ·GTEM室在脉冲测试中的应用 | 第27-28页 |
| ·GTEM室在系统干扰测试中的应用 | 第28-29页 |
| ·GTEM室在电场探头校准中的应用 | 第29页 |
| ·本论文的研究内容,研究背景以及意义 | 第29-31页 |
| ·论文组织结构以及创新点 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 参考文献 | 第34-40页 |
| 第二章 用GTEM室做辐射发射测试的基本原理 | 第40-52页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·具体原理 | 第40-43页 |
| ·4种测量方法的详细分析 | 第43-48页 |
| ·3方位法 | 第43页 |
| ·6方位法 | 第43-44页 |
| ·9方位法 | 第44-45页 |
| ·15方位法 | 第45-48页 |
| ·远场计算 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-52页 |
| 第三章 GTEM室对EUT辐射特性的影响 | 第52-76页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·对称偶极天线在GTEM室中和自由空间中的阻抗变化研究 | 第52-70页 |
| ·对称偶极天线在GTEM室中的输入阻抗计算公式 | 第53-56页 |
| ·GTEM室的电磁仿真 | 第56-63页 |
| ·GTEM小室电磁仿真模型 | 第57-58页 |
| ·GTEM小室仿真模型的可靠性验证 | 第58-63页 |
| ·GTEM小室仿真的理论验证 | 第59-62页 |
| ·特性阻抗的验证 | 第59页 |
| ·端口输出功率的验证 | 第59-62页 |
| ·GTEM小室仿真的实验验证 | 第62-63页 |
| ·输入阻抗公式的验证 | 第63-65页 |
| ·对称偶极天线在GTEM室和自由空间中的输入阻抗变化分析 | 第65-70页 |
| ·对称偶极天线在自由空间中的输入阻抗 | 第65-67页 |
| ·对称偶极天线在GTEM室和自由空间中的输入阻抗变化规律 | 第67-70页 |
| ·阻抗变化值与天线长度L的关系 | 第67-68页 |
| ·阻抗变化值与天线中心距端口距离的关系 | 第68-69页 |
| ·阻抗变化值与天线中心距中板的距离h的关系 | 第69-70页 |
| ·环形磁偶极天线在GTEM室中和自由空间中阻抗变化的初步研究 | 第70-73页 |
| ·阻抗变化值与天线直径D的关系 | 第71页 |
| ·阻抗变化值与天线距端口距离R的关系 | 第71-72页 |
| ·阻抗变化值与天线距底板高度h的关系 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 第四章 用GTEM室做散射体RCS测量的研究 | 第76-92页 |
| ·引言 | 第76-77页 |
| ·RCS基本概念 | 第77-80页 |
| ·散射简介 | 第77页 |
| ·散射截面RCS(Radar Cross Section)的定义 | 第77-78页 |
| ·RCS测量的步骤 | 第78-79页 |
| ·测量场地 | 第79-80页 |
| ·室内紧缩场简介 | 第79页 |
| ·室外测试场简介 | 第79-80页 |
| ·用GTEM室测量RCS的基本原理 | 第80-82页 |
| ·实验验证 | 第82-86页 |
| ·新测量技术的典型应用-RFID无源标签的Delta RCS测试 | 第86-90页 |
| ·RFID技术简介 | 第86-87页 |
| ·标准中RFID标签Delta RCS的测试方法 | 第87页 |
| ·用GTEM小室测试RFID标签DeltaRCS的方法 | 第87-89页 |
| ·UHF频段RFID无源标签Delta RCS的实验测试 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-92页 |
| 第五章 通用RFID读写器圆极化天线的设计以及用GTEM室测量其轴比和增益的可行性 | 第92-122页 |
| ·引言 | 第92-94页 |
| ·圆极化的概念 | 第92-94页 |
| ·通用RFID读写器圆极化天线设计现状 | 第94页 |
| ·一种新型的通用RFID读写器圆极化天线的设计 | 第94-107页 |
| ·新型的圆极化天线的物理结构 | 第94-98页 |
| ·这种新型天线的参数分析 | 第98-107页 |
| ·天线参数测量 | 第107-113页 |
| ·反射损耗测量 | 第107-108页 |
| ·全电波暗室中增益和轴比的测量方案 | 第108-111页 |
| ·GTEM室中增益和轴比的测量方案 | 第111-113页 |
| ·测量结果分析 | 第113-118页 |
| ·暗室测量结果和GTEM室测量结果 | 第113-117页 |
| ·结果分析 | 第117-118页 |
| ·本章小结 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-122页 |
| 第六章 总结与展望 | 第122-126页 |
| ·本论文的研究工作总结 | 第122-123页 |
| ·关于GTEM室的未来研究工作展望 | 第123-126页 |
| 附录 缩略词 | 第126-128页 |
| 致谢 | 第128-130页 |
| 攻读博士期间科研成果 | 第130页 |
