真空开关电弧形态研究及其等离子体参数诊断
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-22页 |
| ·真空开关的现状与发展 | 第11-13页 |
| ·真空开关电弧形态研究 | 第13-16页 |
| ·真空开关电弧燃烧过程 | 第13-15页 |
| ·真空开关电弧形态的观测 | 第15-16页 |
| ·电弧等离子体的参数及其诊断 | 第16-20页 |
| ·电弧等离子体参数 | 第16-17页 |
| ·电弧等离子体的主要特性 | 第17-18页 |
| ·电弧等离子体光学诊断 | 第18-20页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第20-22页 |
| 2 真空开关电弧图像的数字化处理 | 第22-37页 |
| ·数字图像处理 | 第22-24页 |
| ·图像处理系统 | 第22-23页 |
| ·图像格式及其精度 | 第23-24页 |
| ·电弧图像噪声分析及其滤除 | 第24-26页 |
| ·电弧图像噪声分析 | 第24-25页 |
| ·电弧图像噪声图像处理 | 第25-26页 |
| ·电弧图像的局部增强 | 第26-28页 |
| ·电弧图像的边缘检测 | 第28-31页 |
| ·电弧图像的图像特征 | 第31-33页 |
| ·电弧图像的显示 | 第33-35页 |
| ·电弧图像的灰度等值线显示 | 第33-34页 |
| ·电弧图像的伪彩色显示 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 3 基于 CMOS观测实验的真空开关电弧形态研究 | 第37-61页 |
| ·真空开关电弧实验系统 | 第37-42页 |
| ·主电路结构 | 第37-40页 |
| ·触发电路设计 | 第40-41页 |
| ·真空系统与检测 | 第41-42页 |
| ·伏安特性检测 | 第42页 |
| ·基于 CMOS的真空开关电弧观测系统 | 第42-46页 |
| ·CMOS原理及其特点 | 第43-44页 |
| ·电弧图像采集系统 | 第44-46页 |
| ·真空开关电弧形态转变过程分析 | 第46-52页 |
| ·真空开关电弧扩散过程分析 | 第52-59页 |
| ·电弧面积扩散速度过程的分析 | 第53-55页 |
| ·影响电弧面积扩散速度因素 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 4 真空开关电弧等离子体参数的诊断 | 第61-88页 |
| ·真空开关电弧等离子体参数的描述 | 第61-63页 |
| ·等离子体的热辐射 | 第63-64页 |
| ·基于光辐射的电弧等离子参数诊断 | 第64-67页 |
| ·等离子体辐射诊断的Abel变换 | 第67-69页 |
| ·Abel逆变换 | 第67-68页 |
| ·常用 Abel逆变换求解方法 | 第68-69页 |
| ·基于 CCD的真空开关电弧图像采集系统 | 第69-76页 |
| ·系统装置结构 | 第69-70页 |
| ·电弧图像传感器 | 第70-71页 |
| ·光学系统 | 第71-74页 |
| ·电弧图像采集卡 | 第74页 |
| ·电弧图像存储软件 | 第74-76页 |
| ·真空开关电弧等离子体参数的诊断 | 第76-84页 |
| ·电弧图像的数字处理过程 | 第76页 |
| ·电弧图像的数字处理分析 | 第76-80页 |
| ·电弧电子温度的诊断 | 第80-82页 |
| ·电弧电子密度的诊断 | 第82-84页 |
| ·实验结果误差分析 | 第84-86页 |
| ·图像处理带来的误差 | 第85页 |
| ·CCD相机误差 | 第85-86页 |
| ·图像采集卡误差 | 第86页 |
| ·本章小结 | 第86-88页 |
| 5 基于静电探针真空开关电弧等离子体参数的诊断 | 第88-99页 |
| ·静电探针诊断的基本原理 | 第88-92页 |
| ·静电探针诊断电路设计 | 第92-95页 |
| ·实验诊断结果 | 第95-97页 |
| ·探针诊断结果与 CCD诊断结果的比对 | 第97-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 结论 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-107页 |
| 攻读博士学位期间发表学术论文情况 | 第107-109页 |
| 致谢 | 第109-110页 |
| 作者简介 | 第110-111页 |
