| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-11页 |
| 第二章 活度测量的各种方法比较 | 第11-21页 |
| ·小立体角法 | 第13-14页 |
| ·4πβ计数法 | 第14-15页 |
| ·4πβ-γ符合法 | 第15-18页 |
| ·4πβ(ppc)-γ(HPGe)反符合法 | 第18-21页 |
| 第三章 4πβ+4πγ计数法测量放射性活度的原理 | 第21-32页 |
| ·活度测量的数学表达式 | 第21-29页 |
| ·β射线探测效率ε_(βk) | 第23-26页 |
| ·β分支探测效率间的关系 | 第23-24页 |
| ·4πβ-γ(HPGe)符合谱仪测量β射线探测效率 | 第24-26页 |
| ·轫致辐射探测效率ε_(BSk) | 第26页 |
| ·i能级效率ε_i(k) | 第26-29页 |
| ·常规计算法 | 第26-27页 |
| ·矩阵计算法 | 第27-29页 |
| ·EC衰变核素活度测量 | 第29-30页 |
| ·外推法 | 第30-32页 |
| 第四章 4πβ+4πγ计数装置和数据获取系统 | 第32-45页 |
| ·4πβ+4πγ计数装置 | 第32-34页 |
| ·流气式4πβ正比计数器 | 第32-34页 |
| ·阱式NaI(T1)探测器 | 第34页 |
| ·HPGe探测器 | 第34页 |
| ·数据获取系统 | 第34-45页 |
| ·MPA-3多参数数据获取系统简介 | 第34-35页 |
| ·功能介绍 | 第35-36页 |
| ·硬件描述 | 第36-39页 |
| ·软件描述 | 第39-45页 |
| ·独立测量 | 第39-42页 |
| ·符合测量 | 第42-45页 |
| 第五章 装置性能调试 | 第45-59页 |
| ·流气式4πβ正比计数器性能调试 | 第45-50页 |
| ·4πβ正比计数器坪曲线的调试 | 第45-50页 |
| ·气流速度对4πβ正比计数管计数率的影响 | 第50页 |
| ·本底测量 | 第50页 |
| ·4πγNaI(T1)探测器性能调试 | 第50-52页 |
| ·本底分析 | 第50页 |
| ·NaI(T1)探测器全能峰效率刻度 | 第50-52页 |
| ·NaI(T1)探测器全能峰效率的M-C计算 | 第51页 |
| ·NaI(T1)探测器峰效率的检验 | 第51-52页 |
| ·W-C计算值归一到实验值 | 第52页 |
| ·HPGE探测器 | 第52-57页 |
| ·HPGe探测器的能量分辨率 | 第53页 |
| ·本底分析 | 第53-54页 |
| ·全能峰效率刻度 | 第54-57页 |
| ·25cm处刻度 | 第55页 |
| ·实验位置处刻度 | 第55-57页 |
| ·β道、γ道和符合道 | 第57-59页 |
| ·β道和γ道死时间的计算 | 第57页 |
| ·符合分辨时间的测量 | 第57-58页 |
| ·符合道本底 | 第58-59页 |
| 第六章 4πβ+4πγ计数法测量~~(60)CO活度及系统检验 | 第59-71页 |
| ·4πβ+4πγ计数法测量~(60)CO活度 | 第59-61页 |
| ·~(60)Co衰变纲图分析 | 第59-60页 |
| ·测量概况 | 第60-61页 |
| ·测量数据处理 | 第61-67页 |
| ·外推法 | 第61-65页 |
| ·γ道外推 | 第61-63页 |
| ·β道外推 | 第63-65页 |
| ·符合法 | 第65-66页 |
| ·HPGeγ谱仪法测量~(60)Co活度 | 第66-67页 |
| ·对比 | 第67-68页 |
| ·4πβ+4πγ计数法与符合法测量结果误差分析 | 第68-69页 |
| ·小结 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 附录 | 第74-75页 |
| 1 4πβ+4πγ计数法活度测量装置图 | 第74页 |
| 2 模拟4πγNaI(T1)探测效率的MCNP输入文件 | 第74-75页 |
