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基于Nios II的γ射线厚度测量仪表的研究与设计

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-8页
1 绪论第8-13页
   ·同位素测厚仪概述第8-10页
     ·同位素测厚仪的概念第8页
     ·同位素测厚仪的发展简史和趋势第8-9页
     ·同位素测厚仪的技术水平第9页
     ·同位素测厚仪未来发展趋势第9-10页
   ·课题研究的背景和意义第10-11页
     ·课题研究的背景第10-11页
     ·课题研究的目的和意义第11页
   ·课题研究的主要工作和性能指标第11-13页
     ·课题研究的实现功能和主要工作第11-12页
     ·课题研究的性能指标第12-13页
2 γ射线测厚仪的工作原理和组成结构第13-19页
   ·γ射线测厚仪的工作原理第13-14页
     ·γ射线与物质相互作用的形式第13-14页
     ·γ射线测厚仪的工作原理第14页
   ·γ射线测厚仪的组成结构第14-15页
   ·探测器的工作原理和相应电路第15-19页
     ·探测器的工作原理第15-16页
     ·探测器的外围主要电路第16-19页
3 γ射线测量仪表系统的硬件设计第19-32页
   ·γ射线测量仪表的基本功能第19-20页
   ·硬件系统的总体设计方案第20-21页
   ·处理器芯片第21-23页
   ·主要模块的硬件设计第23-32页
     ·存储器模块第23-24页
     ·数据通信模块第24-27页
     ·人机交互模块第27-28页
     ·FPGA 的相关电路第28-32页
4 γ射线测量仪表系统的软件设计第32-52页
   ·系统软件总体设计方案第32页
   ·Nios II 软核处理器第32-34页
   ·Nios II 软核处理器系统的创建第34-37页
     ·创建γ射线测量仪表的目标模板[28]第34-36页
     ·Nios II 软核处理器的配置第36-37页
     ·Nios II 软核处理器系统的生成[33]第37页
   ·Nios II 软核处理器系统的软件设计第37-52页
     ·软件设计的设计方案第37-38页
     ·软件模块设计第38-52页
5 模拟调试与实验调试第52-59页
   ·模拟调试第52-55页
   ·实验调试第55-59页
6 结论与展望第59-61页
   ·主要结论第59页
   ·不足之处和展望未来第59-61页
致谢第61-62页
参考文献第62-64页
附录第64页

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