基于Nios II的γ射线厚度测量仪表的研究与设计
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·同位素测厚仪概述 | 第8-10页 |
·同位素测厚仪的概念 | 第8页 |
·同位素测厚仪的发展简史和趋势 | 第8-9页 |
·同位素测厚仪的技术水平 | 第9页 |
·同位素测厚仪未来发展趋势 | 第9-10页 |
·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
·课题研究的背景 | 第10-11页 |
·课题研究的目的和意义 | 第11页 |
·课题研究的主要工作和性能指标 | 第11-13页 |
·课题研究的实现功能和主要工作 | 第11-12页 |
·课题研究的性能指标 | 第12-13页 |
2 γ射线测厚仪的工作原理和组成结构 | 第13-19页 |
·γ射线测厚仪的工作原理 | 第13-14页 |
·γ射线与物质相互作用的形式 | 第13-14页 |
·γ射线测厚仪的工作原理 | 第14页 |
·γ射线测厚仪的组成结构 | 第14-15页 |
·探测器的工作原理和相应电路 | 第15-19页 |
·探测器的工作原理 | 第15-16页 |
·探测器的外围主要电路 | 第16-19页 |
3 γ射线测量仪表系统的硬件设计 | 第19-32页 |
·γ射线测量仪表的基本功能 | 第19-20页 |
·硬件系统的总体设计方案 | 第20-21页 |
·处理器芯片 | 第21-23页 |
·主要模块的硬件设计 | 第23-32页 |
·存储器模块 | 第23-24页 |
·数据通信模块 | 第24-27页 |
·人机交互模块 | 第27-28页 |
·FPGA 的相关电路 | 第28-32页 |
4 γ射线测量仪表系统的软件设计 | 第32-52页 |
·系统软件总体设计方案 | 第32页 |
·Nios II 软核处理器 | 第32-34页 |
·Nios II 软核处理器系统的创建 | 第34-37页 |
·创建γ射线测量仪表的目标模板[28] | 第34-36页 |
·Nios II 软核处理器的配置 | 第36-37页 |
·Nios II 软核处理器系统的生成[33] | 第37页 |
·Nios II 软核处理器系统的软件设计 | 第37-52页 |
·软件设计的设计方案 | 第37-38页 |
·软件模块设计 | 第38-52页 |
5 模拟调试与实验调试 | 第52-59页 |
·模拟调试 | 第52-55页 |
·实验调试 | 第55-59页 |
6 结论与展望 | 第59-61页 |
·主要结论 | 第59页 |
·不足之处和展望未来 | 第59-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
附录 | 第64页 |