| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-14页 |
| ·研究目的与意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·本文主要工作 | 第11页 |
| ·论文的组织结构 | 第11-14页 |
| 第二章 计算机主机电磁辐射模型以及相关电磁辐射理论和数学理论 | 第14-20页 |
| ·计算机主机电磁辐射模型 | 第14-15页 |
| ·电偶极子 | 第14-15页 |
| ·磁偶极子 | 第15页 |
| ·计算机主机系统电磁信号辐射泄漏的途径 | 第15-16页 |
| ·辐射场特性 | 第15页 |
| ·传导场特性 | 第15-16页 |
| ·计算机主机电磁辐射的红黑信号分类 | 第16页 |
| ·信号分析与处理的基本理论 | 第16-19页 |
| ·快速傅里叶（Fourier）变换 | 第16-17页 |
| ·互相关处理算法 | 第17-18页 |
| ·计算机主机的电磁泄漏信噪比计算方法 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 系统测试与处理平台的组建 | 第20-24页 |
| ·检测方法的选取以及硬件平台的构成 | 第20-21页 |
| ·处理软件的选用 | 第21-22页 |
| ·实验环境 | 第22-23页 |
| ·实验注意事项 | 第23-24页 |
| 第四章 系统分析 | 第24-38页 |
| ·计算机主机机箱外部电磁泄漏分析 | 第24-26页 |
| ·电源电磁泄漏分析 | 第26-27页 |
| ·CPU 电磁泄漏测试和分析 | 第27-30页 |
| ·硬盘电磁泄漏测试和分析 | 第30-34页 |
| ·显卡电磁泄漏测试和分析 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第五章 总结和展望 | 第38-40页 |
| ·总结 | 第38页 |
| ·展望 | 第38-40页 |
| 参考文献 | 第40-43页 |
| 致谢 | 第43-44页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第44-45页 |
| 个人简介 | 第45-46页 |