| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·项目背景 | 第10-11页 |
| ·国内外的发展现状 | 第11-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-13页 |
| ·论文的组织结构 | 第13-14页 |
| 第2章 EFI的架构 | 第14-20页 |
| ·引言 | 第14-15页 |
| ·启动过程 | 第15-16页 |
| ·启动器管理 | 第16-17页 |
| ·EFI内核(EFI Core)及其映像 | 第17页 |
| ·协议(Protocol) | 第17页 |
| ·EFI驱动模型(EFI Driver Model) | 第17-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 EFI测试原理与流程 | 第20-31页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·EFI的软件测试原则 | 第20-21页 |
| ·EFI的软件测试技术与方法 | 第21-22页 |
| ·工业标准测试 | 第22-25页 |
| ·EFI/UEFI shell | 第23页 |
| ·PCI Option Rom的测试 | 第23-24页 |
| ·UEFI Application(driver.efi)的编译和运行 | 第24-25页 |
| ·软件配置管理 | 第25-28页 |
| ·VSS文件备份 | 第26页 |
| ·WinCVS版本控制 | 第26-28页 |
| ·Bug管理流程(PVCS的应用) | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第4章 SCT系统的详细设计 | 第31-42页 |
| ·黑盒测试方法概述 | 第31-32页 |
| ·EFI的驱动-协议模型 | 第32-33页 |
| ·SCT组成模块 | 第33-34页 |
| ·SCT系统架构 | 第34-39页 |
| ·黑盒测试协议EFI_BB_TEST_PROTOCOL的定义如下 | 第34-35页 |
| ·黑盒测试入口定义如下 | 第35-36页 |
| ·黑盒测试入口点定义如下 | 第36页 |
| ·标准库协议接口(Standard Test Support Library) | 第36-37页 |
| ·卸载测试用例 | 第37页 |
| ·黑盒测试协议架构 | 第37-38页 |
| ·SCT黑盒测试用例设计 | 第38-39页 |
| ·SCT工作流 | 第39-41页 |
| ·初始化测试数据 | 第40-41页 |
| ·执行测试函数 | 第41页 |
| ·释放报告 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 SCT实现TIANO测试 | 第42-49页 |
| ·应用菜单模式的测试流程 | 第42-45页 |
| ·EFI Shell | 第42-43页 |
| ·主界面 | 第43-44页 |
| ·测试环境管理 | 第44页 |
| ·测试用例管理 | 第44-45页 |
| ·测试报告生成器 | 第45页 |
| ·报告生成 | 第45页 |
| ·测试结果分析 | 第45-48页 |
| ·Log分析与问题的定位 | 第47页 |
| ·Bug的修正 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第6章 结束语 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 附录一 实现代码 | 第53-58页 |
| EFI SCT初始化数据结构实现代码 | 第53页 |
| Bug fix的源代码 | 第53-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第59页 |
