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提高光电自准直仪分辨率及精度的研究

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·自准直仪的发展概述第7页
   ·国内外现状第7-12页
   ·课题的意义第12-13页
第二章 自准直仪工作原理第13-29页
   ·工作原理第13页
   ·成像器件的选择第13-23页
     ·CCD简介第14-16页
   ·2 CMOS简介第16-17页
     ·CCD和CMOS的性能比较第17-19页
     ·位置传感器PSD简分第19-23页
   ·细分方法第23-26页
   ·分划板的选取第26-29页
第三章 对成像器件进行软件细分提高自准直仪分辨率第29-41页
   ·引言第29页
   ·细分算法第29-30页
   ·实验过程第30-31页
   ·图像处理第31-37页
   ·算法结果第37-38页
   ·误差分析第38-40页
   ·结论第40-41页
第四章 莫尔条纹在自准直仪中的应用第41-58页
   ·光栅莫尔条纹的基本原理第41-43页
     ·横向莫尔条纹测量位移的原理第41-42页
     ·纵向莫尔条纹测量位移的原理第42-43页
   ·纵向莫尔条纹在光电自准直仪中的应用第43-47页
     ·系统原理第43-46页
     ·原理上改进第46-47页
   ·可行性验证第47-57页
     ·实验器材第48页
     ·实验搭建第48-50页
     ·数据获取第50-51页
     ·数据处理第51-54页
     ·误差分析第54-57页
   ·结论第57-58页
第五章 结论与展望第58-60页
参考文献第60-62页
攻读硕士学位期间发表的论文第62-63页
致谢第63页

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