提高光电自准直仪分辨率及精度的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·自准直仪的发展概述 | 第7页 |
| ·国内外现状 | 第7-12页 |
| ·课题的意义 | 第12-13页 |
| 第二章 自准直仪工作原理 | 第13-29页 |
| ·工作原理 | 第13页 |
| ·成像器件的选择 | 第13-23页 |
| ·CCD简介 | 第14-16页 |
| ·2 CMOS简介 | 第16-17页 |
| ·CCD和CMOS的性能比较 | 第17-19页 |
| ·位置传感器PSD简分 | 第19-23页 |
| ·细分方法 | 第23-26页 |
| ·分划板的选取 | 第26-29页 |
| 第三章 对成像器件进行软件细分提高自准直仪分辨率 | 第29-41页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·细分算法 | 第29-30页 |
| ·实验过程 | 第30-31页 |
| ·图像处理 | 第31-37页 |
| ·算法结果 | 第37-38页 |
| ·误差分析 | 第38-40页 |
| ·结论 | 第40-41页 |
| 第四章 莫尔条纹在自准直仪中的应用 | 第41-58页 |
| ·光栅莫尔条纹的基本原理 | 第41-43页 |
| ·横向莫尔条纹测量位移的原理 | 第41-42页 |
| ·纵向莫尔条纹测量位移的原理 | 第42-43页 |
| ·纵向莫尔条纹在光电自准直仪中的应用 | 第43-47页 |
| ·系统原理 | 第43-46页 |
| ·原理上改进 | 第46-47页 |
| ·可行性验证 | 第47-57页 |
| ·实验器材 | 第48页 |
| ·实验搭建 | 第48-50页 |
| ·数据获取 | 第50-51页 |
| ·数据处理 | 第51-54页 |
| ·误差分析 | 第54-57页 |
| ·结论 | 第57-58页 |
| 第五章 结论与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |