摘要 | 第1-8页 |
ABSTRACT | 第8-10页 |
前言 | 第10-12页 |
第一章 绪论 | 第12-33页 |
1.1 引言 | 第12-13页 |
1.2 介电材料及其性质 | 第13-26页 |
1.2.1 介电材料的定义及基本性质 | 第13-16页 |
1.2.2 介电材料的种类及其特性 | 第16-20页 |
1.2.3 几种高介电常数材料及其应用 | 第20-24页 |
1.2.4 制备的几种方法 | 第24-26页 |
1.3 CaCu_3Ti_4O_(12)材料及其性质 | 第26-31页 |
1.3.1 概述 | 第26-28页 |
1.3.2 制备方法比较 | 第28-30页 |
1.3.3 理论模型 | 第30-31页 |
1.4 本课题的研究目的及科学意义 | 第31-33页 |
第二章 实验方法和过程 | 第33-38页 |
2.1 制备方法、原料及设备 | 第33-36页 |
2.1.1 实验制备方法 | 第33-35页 |
2.1.2 实验原材料 | 第35-36页 |
2.1.3 实验设备与器材 | 第36页 |
2.2 测试仪器和方法 | 第36-38页 |
2.2.1 差热分析和热失重分析(DTA/TGA) | 第36页 |
2.2.2 X—射线衍射(XRD) | 第36-37页 |
2.2.3 场发射扫描电镜(FE—SEM) | 第37页 |
2.2.4 相对密度的测定 | 第37页 |
2.2.5 介电性能测试 | 第37-38页 |
第三章 sol-gel法制备CaCu_3Ti_4O_(12)及结构研究 | 第38-52页 |
3.1 引言 | 第38-39页 |
3.2 实验 | 第39-40页 |
3.2.1 溶胶和凝胶制备 | 第39页 |
3.2.2 粉末预烧和陶瓷烧结 | 第39-40页 |
3.3 溶胶化与凝胶化过程研究 | 第40-44页 |
3.4 制备条件对CCTO粉末晶化影响的研究 | 第44-48页 |
3.4.1 干凝胶差热失重曲线 | 第44-45页 |
3.4.2 锻烧温度和时间对粉末晶相影响研究 | 第45-48页 |
3.5 制备条件对CCTO陶瓷晶相结构影响研究 | 第48-50页 |
3.6 总结 | 第50-52页 |
第四章 sol-gel法制备的CaCu_3Ti_4O_(12)介电性能研究 | 第52-63页 |
4.1 引言 | 第52页 |
4.2 性能测试 | 第52-53页 |
4.3 CCTO陶瓷介电性能分析 | 第53-62页 |
4.3.1 陶瓷介电常数温度稳定性分析 | 第53-54页 |
4.3.2 陶瓷晶相含量、结构对介电性能的影响 | 第54-58页 |
4.3.3 晶界杂相对介电性能的影响 | 第58-60页 |
4.3.4 晶粒半导化程度对介电性能影响分析 | 第60-62页 |
4.4 总结 | 第62-63页 |
第五章 CCTO膜的制备初探 | 第63-67页 |
5.1 引言 | 第63页 |
5.2 实验 | 第63-65页 |
5.3 实验结果与分析 | 第65-66页 |
5.4 总结 | 第66-67页 |
第六章 总结 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第73-74页 |
致谢 | 第74页 |