| 中文摘要 | 第1-9页 |
| 英文摘要 | 第9-15页 |
| 研究论文寡克隆区带、24 小时鞘内合成率及IgG 指数对多发性硬化的诊断价值 | 第15-59页 |
| 引言 | 第15-17页 |
| 第一部分 等电聚焦检测寡克隆区带技术的建立 | 第17-35页 |
| 前言 | 第17页 |
| 材料与方法 | 第17-23页 |
| 结果 | 第23-25页 |
| 附图 | 第25-28页 |
| 附表 | 第28-29页 |
| 讨论 | 第29-32页 |
| 小结 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-35页 |
| 第二部分 寡克隆区带、24 小时鞘内合成率及IgG 指数在多发性硬化中的诊断意义 | 第35-59页 |
| 前言 | 第35-36页 |
| 材料与方法 | 第36-41页 |
| 结果 | 第41-45页 |
| 附表 | 第45-48页 |
| 讨论 | 第48-53页 |
| 小结 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 综述一 多发性硬化脑脊液寡克隆区带的研究进展 | 第59-71页 |
| 综述二 多发性硬化的遗传研究进展 | 第71-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 个人简历 | 第84页 |