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MEMS器件倒装芯片封装中的柔性化凸点制备技术及其应用

摘 要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 概 述第7-23页
   ·MEMS 简介第7-16页
     ·MEMS 定义第7-8页
     ·常见 MEMS 器件第8-12页
     ·MEMS 器件的封装第12-16页
   ·倒装芯片技术第16-19页
     ·焊接式倒装芯片互连工艺第17-19页
     ·倒装芯片技术的特点第19页
   ·国内外研究概况第19-22页
     ·国外 MEMS 研究概况第19-20页
     ·国外倒装芯片技术在 MEMS 封装中的应用情况第20-21页
     ·国内 MEMS 的研究概况第21-22页
   ·本课题目的第22-23页
第二章 MEMS 芯片上 UBM 沉积第23-34页
   ·UBM 沉积方法与金属组合的选择第23-25页
   ·化学镀 Ni-P第25-32页
     ·化学除油与浸蚀第27-28页
     ·二次锌化第28-30页
     ·化学镀 Ni-P第30-32页
   ·化学镀 Cu第32-34页
第三章 MEMS 芯片上凸点的制备第34-45页
   ·凸点制备工艺比较第34-36页
   ·凸点预制与转移第36-43页
     ·焊膏第36-37页
     ·印刷模板第37-40页
     ·凸点预制与收集第40-41页
     ·凸点转移第41-43页
   ·焊膏滴注制备凸点第43-45页
第四章 应用实例与结果讨论第45-64页
   ·压力传感器上凸点制备第45-58页
     ·MEMS 压力传感器第45-46页
     ·工艺步骤第46-47页
     ·试验结果讨论第47-58页
   ·玻璃倒装假芯片制备第58-64页
     ·工艺步骤第58-60页
     ·试验结果讨论第60-64页
第五章 结论与建议第64-67页
   ·全文主要结论第64-65页
   ·建议第65-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-72页
附录(攻读学位期间发表论文目录)第72页

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