| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-6页 |
| 1 绪论 | 第6-13页 |
| ·研究背景 | 第6页 |
| ·研究现状 | 第6-8页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第8-9页 |
| 参考文献 | 第9-13页 |
| 2 近场测试测试精度的研究 | 第13-19页 |
| ·平面近场测量的基本理论 | 第13-15页 |
| ·基本原理 | 第13-14页 |
| ·探头补偿原理 | 第14-15页 |
| ·提高测试精度的研究 | 第15-18页 |
| ·简化的探头方向性修正方法 | 第15-16页 |
| ·应用小波变换改进测试精度 | 第16-18页 |
| ·小波变换 | 第16-17页 |
| ·实验结果 | 第17-18页 |
| 参考文献 | 第18-19页 |
| 3 平面近场口径外推 | 第19-36页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·几种外推算法的介绍 | 第19-25页 |
| ·RELAX方法用于口径场计算 | 第19-21页 |
| ·CLEAN方法在外推口径方面的研究 | 第21-22页 |
| ·分数阶傅立叶变换 | 第22-25页 |
| ·矩阵束(Matrix-Pencil)方法实现近场口径外推 | 第25-34页 |
| ·Matrix-Pencil方法介绍 | 第25-27页 |
| ·矩阵束(Matrix-Pencil)方法实现近场口径外推 | 第27-31页 |
| ·24单元线阵仿真实验 | 第27-29页 |
| ·面天线的仿真实验 | 第29-31页 |
| ·对近场外推能力的研究 | 第31-34页 |
| ·外推标准 | 第31-32页 |
| ·外推能力 | 第32-34页 |
| 参考文献 | 第34-36页 |
| 4 天线诊断 | 第36-48页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·应用DFT从方向图恢复口径幅相 | 第36-37页 |
| ·基于平面波谱展开理论的近场诊断 | 第37-41页 |
| ·由探头与AUT的耦合方程导出的天线诊断方法 | 第37-40页 |
| ·诊断仿真 | 第40-41页 |
| ·近场全息成像方法 | 第41-45页 |
| ·单元幅相的恢复方法 | 第42-43页 |
| ·全息诊断仿真实验 | 第43-44页 |
| ·相控阵诊断实验 | 第44-45页 |
| ·单独由方向图幅度恢复天线口径场的研究 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-48页 |
| 5 天线测试软件 | 第48-53页 |
| ·天线近场处理软件 | 第48-50页 |
| ·系统总体概述 | 第48页 |
| ·软件特点及功能 | 第48页 |
| ·软件结构框架 | 第48-49页 |
| ·使用简介 | 第49-50页 |
| ·天线采集口径信息 | 第49页 |
| ·天线方向图显示 | 第49-50页 |
| ·天线参数计算 | 第50页 |
| ·天线口径诊断信息 | 第50页 |
| ·天线远场测试系统 | 第50-52页 |
| ·系统总体概述 | 第50页 |
| ·软件功能 | 第50页 |
| ·软件结构框架 | 第50-51页 |
| ·使用简介 | 第51-52页 |
| ·方向图测试 | 第51页 |
| ·驻波比测试 | 第51-52页 |
| ·扫频增益测试 | 第52页 |
| 参考文献 | 第52-53页 |
| 结束语 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 攻读硕士学位期间完成的论文和参与的科研项目 | 第55页 |