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混沌控制与混沌优化及其在组合电路测试生成中的应用研究

中文摘要第1-7页
英文摘要第7-12页
第一章 绪论第12-24页
 1.1 混沌研究的兴起与发展第12-15页
 1.2 混沌控制与混沌优化第15-18页
 1.3 组合电路的测试技术第18-21页
 1.4 本文的主要研究内容及结构第21-24页
第二章 混沌动力学基础第24-39页
 2.1 混沌的定义及特性第24-28页
 2.2 与混沌有关的一些基本概念第28-35页
 2.3 周期轨道的稳定性分析第35-37页
 2.4 通向混沌的道路第37-39页
第三章 混沌系统脉动控制和神经网络控制方法研究第39-67页
 3.1 引言第39页
 3.2 混沌控制第39-46页
 3.3 混沌系统的一类脉动控制方法研究第46-55页
 3.4 基于神经网络的混沌控制方法研究第55-66页
 3.5 本章小结第66-67页
第四章 混沌搜索及其在组合电路测试生成中的应用研究第67-82页
 4.1 引言第67页
 4.2 混沌运动的遍历性第67-68页
 4.3 基于混沌变量的混沌优化第68-70页
 4.4 基于混沌搜索的组合电路测试生成方法研究第70-80页
 4.5 小结第80-82页
第五章 基于混沌神经网络的组合电路测试生成方法研究第82-97页
 5.1 引言第82页
 5.2 混沌神经网络第82-85页
 5.3 基于混沌神经网络的混沌优化第85-87页
 5.4 组合电路的混沌神经网络模型第87-90页
 5.5 基于混沌神经网络的组合电路测试生成模型第90-91页
 5.6 基于混沌神经网络的组合电路测试生成算法第91-93页
 5.7 实验结果及讨论第93-96页
 5.8 小结第96-97页
第六章 混沌遗传算法及其在电路测试生成中的应用研究第97-107页
 6.1 引言第97页
 6.2 遗传算法第97-99页
 6.3 混沌遗传算法第99-101页
 6.4 基于混沌遗传算法的组合电路测试生成方法第101-105页
 6.5 相关实验及其结果第105-106页
 6.6 小结第106-107页
第七章 混沌优化在故障测试集最小化问题中的应用研究第107-118页
 7.1 引言第107-108页
 7.2 故障测试集最小化问题的描述第108-109页
 7.3 基于混沌搜索的故障测试集最小化方法研究第109-114页
 7.4 基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法研究第114-117页
 7.5 小结第117-118页
第八章 结束语第118-122页
参考文献第122-134页
致谢第134-135页
个人简历、攻读博士学位期间完成的论文及科研情况第135-136页

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