中文摘要 | 第1-7页 |
英文摘要 | 第7-12页 |
第一章 绪论 | 第12-24页 |
1.1 混沌研究的兴起与发展 | 第12-15页 |
1.2 混沌控制与混沌优化 | 第15-18页 |
1.3 组合电路的测试技术 | 第18-21页 |
1.4 本文的主要研究内容及结构 | 第21-24页 |
第二章 混沌动力学基础 | 第24-39页 |
2.1 混沌的定义及特性 | 第24-28页 |
2.2 与混沌有关的一些基本概念 | 第28-35页 |
2.3 周期轨道的稳定性分析 | 第35-37页 |
2.4 通向混沌的道路 | 第37-39页 |
第三章 混沌系统脉动控制和神经网络控制方法研究 | 第39-67页 |
3.1 引言 | 第39页 |
3.2 混沌控制 | 第39-46页 |
3.3 混沌系统的一类脉动控制方法研究 | 第46-55页 |
3.4 基于神经网络的混沌控制方法研究 | 第55-66页 |
3.5 本章小结 | 第66-67页 |
第四章 混沌搜索及其在组合电路测试生成中的应用研究 | 第67-82页 |
4.1 引言 | 第67页 |
4.2 混沌运动的遍历性 | 第67-68页 |
4.3 基于混沌变量的混沌优化 | 第68-70页 |
4.4 基于混沌搜索的组合电路测试生成方法研究 | 第70-80页 |
4.5 小结 | 第80-82页 |
第五章 基于混沌神经网络的组合电路测试生成方法研究 | 第82-97页 |
5.1 引言 | 第82页 |
5.2 混沌神经网络 | 第82-85页 |
5.3 基于混沌神经网络的混沌优化 | 第85-87页 |
5.4 组合电路的混沌神经网络模型 | 第87-90页 |
5.5 基于混沌神经网络的组合电路测试生成模型 | 第90-91页 |
5.6 基于混沌神经网络的组合电路测试生成算法 | 第91-93页 |
5.7 实验结果及讨论 | 第93-96页 |
5.8 小结 | 第96-97页 |
第六章 混沌遗传算法及其在电路测试生成中的应用研究 | 第97-107页 |
6.1 引言 | 第97页 |
6.2 遗传算法 | 第97-99页 |
6.3 混沌遗传算法 | 第99-101页 |
6.4 基于混沌遗传算法的组合电路测试生成方法 | 第101-105页 |
6.5 相关实验及其结果 | 第105-106页 |
6.6 小结 | 第106-107页 |
第七章 混沌优化在故障测试集最小化问题中的应用研究 | 第107-118页 |
7.1 引言 | 第107-108页 |
7.2 故障测试集最小化问题的描述 | 第108-109页 |
7.3 基于混沌搜索的故障测试集最小化方法研究 | 第109-114页 |
7.4 基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法研究 | 第114-117页 |
7.5 小结 | 第117-118页 |
第八章 结束语 | 第118-122页 |
参考文献 | 第122-134页 |
致谢 | 第134-135页 |
个人简历、攻读博士学位期间完成的论文及科研情况 | 第135-136页 |