超二代微光像增管加速工作寿命试验探讨
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题的研究背景、意义 | 第9页 |
| ·微光像增强器发展简介 | 第9-11页 |
| ·国内外发展状况 | 第11-14页 |
| ·国内 | 第11-12页 |
| ·国外微光像增强器可靠性试验现状 | 第12-14页 |
| ·主要研究内容和安排 | 第14-15页 |
| 2 基本理论分析 | 第15-19页 |
| ·二代像增强管的工作寿命和工作寿命试验 | 第15页 |
| ·一元线形回归和最小二乘法 | 第15-16页 |
| ·一元线形回归方程的求解 | 第16-18页 |
| ·辐射理论 | 第18-19页 |
| 3 超二代微光像增强器工作寿命 | 第19-22页 |
| ·工作寿命的定义 | 第20页 |
| ·工作寿命试验分析 | 第20-22页 |
| 4 影响像增强管工作寿命的因素 | 第22-31页 |
| ·光电阴极 | 第22-24页 |
| ·光电阴极衰退 | 第22页 |
| ·光电阴极衰退因素分析 | 第22-24页 |
| ·微通道板 | 第24-31页 |
| ·微通道板寿命 | 第26-27页 |
| ·离子反馈 | 第27-28页 |
| ·离子阻挡层薄膜 | 第28页 |
| ·微通道板电子清刷 | 第28-29页 |
| ·MCP的离子清洗技术 | 第29页 |
| ·材料对MCP的影响 | 第29-31页 |
| 5 加速工作寿命试验 | 第31-35页 |
| ·试验比较 | 第31-32页 |
| ·失效模式 | 第32页 |
| ·失效判据 | 第32页 |
| ·试验方案 | 第32页 |
| ·试验应力 | 第32-33页 |
| ·试验设备 | 第33页 |
| ·试验样品确定 | 第33-34页 |
| ·试验预处理 | 第34页 |
| ·试验时间 | 第34-35页 |
| 6 试验数据分析 | 第35-37页 |
| ·数据整理 | 第35页 |
| ·数据分析 | 第35-37页 |
| 7 结论 | 第37-39页 |
| 致谢 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-42页 |
| 附表1 | 第42-47页 |
