X波段阵面校准技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| ·研究背景及其意义 | 第9-10页 |
| ·研究的目的 | 第10-11页 |
| ·论文的结构 | 第11-12页 |
| 2 相控阵的基本原理 | 第12-25页 |
| ·相控阵的组成 | 第12页 |
| ·相控阵天线的工作原理 | 第12-16页 |
| ·坐标系定义 | 第12-13页 |
| ·相控阵扫描原理 | 第13-16页 |
| ·相控阵天线主要性能的参数 | 第16-18页 |
| ·天线方向图 | 第17页 |
| ·天线方向性系数和增益 | 第17-18页 |
| ·误差对相控阵天线性能的影响 | 第18-20页 |
| ·对天线方向图的影响 | 第18-19页 |
| ·对天线波束指向的影响 | 第19页 |
| ·对天线副瓣的影响 | 第19-20页 |
| ·相控阵天线的测量技术 | 第20-24页 |
| ·远场测量 | 第20页 |
| ·平面近场测量 | 第20-22页 |
| ·聚焦法测量 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 相控阵校准技术 | 第25-36页 |
| ·内监测校准技术 | 第25-26页 |
| ·互耦法校准 | 第26-30页 |
| ·三角形栅格平面阵列校准 | 第26-29页 |
| ·矩形栅格平面阵列校准 | 第29-30页 |
| ·中场校准技术 | 第30-33页 |
| ·中场一点法 | 第30-31页 |
| ·中场两点法 | 第31-33页 |
| ·远场校准技术 | 第33页 |
| ·矢量旋转法 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 4 校准技术研究 | 第36-46页 |
| ·极化效应分析 | 第36-41页 |
| ·极化的定义 | 第36-37页 |
| ·线极化效应分析 | 第37-38页 |
| ·几种典型情况的仿真 | 第38-41页 |
| ·校准中的算法研究 | 第41-44页 |
| ·测试过程 | 第41-42页 |
| ·仿真结果 | 第42-44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 5 试验平台及测试数据 | 第46-52页 |
| ·试验平台 | 第46-47页 |
| ·极化效应测试 | 第47-48页 |
| ·阵面校准结果 | 第48-51页 |
| ·阵面测试过程 | 第48页 |
| ·局部反相法校准结果 | 第48-51页 |
| ·试验结论 | 第51-52页 |
| 6 结论 | 第52-53页 |
| ·研制总结 | 第52页 |
| ·展望 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
