一维光子晶体光开关的理论研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| ·论文背景 | 第15页 |
| ·光子晶体光开关的实现方法 | 第15-18页 |
| ·光子带隙移动的方法 | 第15-16页 |
| ·缺陷模移动的方法 | 第16-18页 |
| ·光子晶体光开关的研究状况 | 第18-21页 |
| ·光子晶体光开关的研究历史与现状 | 第18-20页 |
| ·光子晶体光开关仍需解决的问题 | 第20-21页 |
| ·本论文的主要工作 | 第21-22页 |
| 第二章 一维光子晶体带隙的研究 | 第22-43页 |
| ·引言 | 第22-26页 |
| ·光子晶体的理论分析方法 | 第26-31页 |
| ·平面波展开法 | 第26-27页 |
| ·传输矩阵法 | 第27页 |
| ·时域差分法 | 第27-31页 |
| ·传输矩阵的理论模型 | 第31-36页 |
| ·传输矩阵的计算模型 | 第31-33页 |
| ·1-D PhC的结构模型 | 第33-35页 |
| ·一维光子晶体的色散关系 | 第35-36页 |
| ·一维光子晶体结构各参数对光子晶体带隙的影响 | 第36-42页 |
| ·不同入射角对光子晶体带隙的影响 | 第36-39页 |
| ·折射率比值对光子晶体带隙宽度的影响 | 第39-40页 |
| ·中心波长对光子晶体带隙的影响 | 第40-41页 |
| ·周期数对光子晶体带隙的影响 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 含掺杂缺陷的一维光子晶体的传输特性的研究 | 第43-64页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·掺杂一层缺陷的一维光子晶体缺陷模的计算与研究 | 第43-60页 |
| ·改变缺陷层的光学厚度对于缺陷模的影响 | 第44-53页 |
| ·夹杂式缺陷 | 第44-49页 |
| ·替换式掺杂 | 第49-53页 |
| ·改变缺陷层的折射率对于缺陷模的影响 | 第53-55页 |
| ·夹杂式缺陷 | 第53-54页 |
| ·替换式缺陷 | 第54-55页 |
| ·改变缺陷层在光子晶体中的位置对于缺陷模的影响 | 第55-57页 |
| ·夹杂式缺陷 | 第55-57页 |
| ·替换式缺陷 | 第57页 |
| ·改变缺陷层两侧的光子晶体周期数对于缺陷模的影响 | 第57-59页 |
| ·夹杂式缺陷 | 第57-59页 |
| ·替换式缺陷 | 第59页 |
| ·复折射率对缺陷模的影响 | 第59-60页 |
| ·多处掺杂缺陷的一维光子晶体缺陷模的计算与研究 | 第60-62页 |
| ·缺陷分布对于缺陷模的影响 | 第61页 |
| ·缺陷数量对缺陷模的影响 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第四章 一维光子晶体光开关的设计与研究 | 第64-73页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·掺杂KTP的一维光子晶体光开关的设计 | 第64-72页 |
| ·掺杂KTP的一维光子晶体光开关的理论模型 | 第64-65页 |
| ·电光材料简介 | 第65-68页 |
| ·电光效应的基本原理 | 第65-67页 |
| ·线性电光系数的表示方法 | 第67页 |
| ·典型的线性电光材料 | 第67-68页 |
| ·掺杂缺陷的一维光子晶体光开关的数值计算与讨论 | 第68-72页 |
| ·掺杂缺陷的光子带隙 | 第68-69页 |
| ·温度对光波透射率的影响 | 第69-70页 |
| ·一维光子晶体光开关的实现 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 结论 | 第73-76页 |
| 参考文献 | 第76-83页 |
| 附录 | 第83-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第87-88页 |
| 作者和导师简介 | 第88-89页 |
| 北京化工大学 硕士研究生学位论文答辩委员会决议书 | 第89-90页 |
