合成绝缘子不明原因闪络和带电测试的研究与应用
| 中文摘要 | 第1页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·选题背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-9页 |
| ·本文的主要工作 | 第9-10页 |
| 第二章 合成绝缘子分析计算模型 | 第10-18页 |
| ·合成绝缘子的结构及工艺 | 第10-12页 |
| ·界面连接工艺 | 第10页 |
| ·金属附件连接工艺 | 第10-11页 |
| ·制造材料 | 第11页 |
| ·端部密封 | 第11页 |
| ·伞裙形状 | 第11-12页 |
| ·均压装置 | 第12页 |
| ·绝缘子数学模型的建立 | 第12-13页 |
| ·绝缘子模型的简化 | 第12页 |
| ·绝缘子模型建立 | 第12-13页 |
| ·有限元法基本原理 | 第13-14页 |
| ·ANSYS 应用介绍 | 第14-15页 |
| ·ANSYS 软件简介 | 第14页 |
| ·ANSYS 典型分析步骤 | 第14-15页 |
| ·实例计算结果及分析 | 第15-18页 |
| 第三章 带电检测系统总体设计及软件介绍 | 第18-33页 |
| ·系统的总体要求 | 第18页 |
| ·硬件设计 | 第18-19页 |
| ·软件设计 | 第19-33页 |
| ·数据传输功能 | 第20-23页 |
| ·图形处理功能 | 第23-29页 |
| ·数据显示功能 | 第29-31页 |
| ·界面控制功能 | 第31页 |
| ·其它控制功能 | 第31-33页 |
| 第四章 测试结果与分析 | 第33-44页 |
| ·重复性试验 | 第33-34页 |
| ·测试内容 | 第33页 |
| ·测试方法 | 第33页 |
| ·测试电路 | 第33页 |
| ·测试结果 | 第33-34页 |
| ·准确性试验 | 第34-35页 |
| ·测试内容 | 第34页 |
| ·测试方法 | 第34页 |
| ·测试电路 | 第34-35页 |
| ·测试结果 | 第35页 |
| ·灵敏度试验 | 第35-37页 |
| ·测试内容 | 第35页 |
| ·测试方法 | 第35-36页 |
| ·测试电路 | 第36页 |
| ·测试结果 | 第36-37页 |
| ·抗强场及抗电晕试验 | 第37-38页 |
| ·测试内容 | 第37页 |
| ·测试方法 | 第37页 |
| ·测试电路 | 第37页 |
| ·测试结果 | 第37-38页 |
| ·使用温湿度范围检验 | 第38-39页 |
| ·测试内容 | 第38页 |
| ·测试结果 | 第38-39页 |
| ·实际测试检验 | 第39-44页 |
| ·测试内容 | 第39页 |
| ·测试结果1 | 第39-41页 |
| ·测试结果2 | 第41-44页 |
| 第五章 结论与展望 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 致谢 | 第48-49页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第49页 |
