| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 第一章 文献综述 | 第14-23页 |
| ·白叶枯病抗性基因的发掘、鉴定与定位 | 第15-16页 |
| ·白叶枯病抗性基因在水稻育种中的应用 | 第16-19页 |
| ·白叶枯病抗性基因在常规育种中的应用 | 第17页 |
| ·白叶枯病抗性基因在分子标记辅助育种中的应用 | 第17-19页 |
| ·基因芯片技术及其在水稻病害研究中的利用 | 第19-22页 |
| ·基因芯片（Gene microarray）技术 | 第19-20页 |
| ·基因芯片在水稻病害机理研究中的进展 | 第20-22页 |
| ·本研究的目的及意义 | 第22-23页 |
| 第二章 水稻抗感近等基因系的构建及其在白叶枯病菌胁迫下的表达谱分析 | 第23-39页 |
| ·材料 | 第23页 |
| ·方法 | 第23-28页 |
| ·近等基因系的构建及评价 | 第23-24页 |
| ·水稻白叶枯病田间接种及鉴定 | 第24页 |
| ·DNA 的提取 | 第24页 |
| ·SSR 引物扩增 | 第24-25页 |
| ·电泳检测 | 第25-26页 |
| ·基因芯片表达谱分析 | 第26-28页 |
| ·结果与分析 | 第28-37页 |
| ·近等基因系的构建及近等性评价 | 第28-30页 |
| ·RNA 质量检测 | 第30页 |
| ·芯片杂交质检报告结果与分析 | 第30页 |
| ·芯片数据情况 | 第30-32页 |
| ·差异表达基因筛选 | 第32页 |
| ·差异表达基因的功能注释 | 第32-37页 |
| ·讨论 | 第37-39页 |
| ·近等基因系的构建及近等性评价 | 第37页 |
| ·近等基因系用于Affymetrix 表达谱芯片的优缺点 | 第37-38页 |
| ·白叶枯病抗性的复杂性 | 第38-39页 |
| 第三章 水稻恢复系白叶枯病抗性改良 | 第39-47页 |
| ·材料 | 第39页 |
| ·方法 | 第39-41页 |
| ·供试白叶枯病菌株、培养、接种、鉴定（见2.2.2 ） | 第39页 |
| ·实验设计 | 第39-40页 |
| ·田间种植及农艺性状考察 | 第40-41页 |
| ·SSR 分子标记检测遗传背景回复率 | 第41页 |
| ·基于分子标记的遗传背景回复率的计算方法 | 第41页 |
| ·结果分析 | 第41-45页 |
| ·SSR 分子标记检测遗传背景回复率 | 第41-43页 |
| ·回交改良后代农艺性状考察 | 第43-44页 |
| ·部分回交改良株系与天丰A 测配 | 第44-45页 |
| ·讨论 | 第45-47页 |
| ·白叶枯病抗性基因回交转育方法的探讨 | 第45-46页 |
| ·SSR 分子标记检测遗传背景回复率 | 第46-47页 |
| 第四章 全文结论 | 第47-50页 |
| ·结论 | 第47-48页 |
| ·水稻抗感近等基因系的构建及其在白叶枯病菌胁迫下的表达谱分析 | 第47页 |
| ·水稻恢复系的白叶枯病抗性改良 | 第47-48页 |
| ·本研究创新点与下一步工作计划 | 第48-50页 |
| ·本研究创新点 | 第48-49页 |
| ·下一步工作计划 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-57页 |
| 附录附表 | 第57-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 作者简历 | 第61页 |
