摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
第1章 绪论 | 第12-34页 |
·课题背景及意义 | 第12-17页 |
·粒子物理学的发展 | 第12-14页 |
·对称性研究的意义和CP破坏 | 第14-17页 |
·国内外研究现状 | 第17-30页 |
·CP破坏的理论解释 | 第17-21页 |
·介子衰变中的CP破坏 | 第21-23页 |
·标准模型范围内的CP破坏检验 | 第23-27页 |
·超出标准模型之外的CP破坏寻找 | 第27-30页 |
·研究动机和主要工作 | 第30-34页 |
第2章 BESII上J/ψ →Λ衰变中的CP破坏测量 | 第34-56页 |
·BESII的硬件系统简介 | 第34-37页 |
·J/ψ → ΛΛ事例的蒙特卡洛模拟 | 第37-39页 |
·J/ψ → ΛΛ事例的选择 | 第39-43页 |
·径迹选择 | 第39-41页 |
·事例选择 | 第41-43页 |
·J/ψ → ΛΛˉ衰变的本底研究 | 第43-50页 |
·本底道分析 | 第43-44页 |
·用J/ψ → Anything数据检验本底 | 第44页 |
·选择条件的效率和结果 | 第44-50页 |
·误差分析 | 第50-54页 |
·统计误差 | 第50-52页 |
·系统误差 | 第52-54页 |
·本章小结 | 第54-56页 |
第3章 J/ψ → ΛΛ衰变中CP破坏测量方案的改进 | 第56-68页 |
·改进方案的动机 | 第56-57页 |
·J/ψ → ΛΛ衰变的全角分布分析 | 第57-60页 |
·全角分布中的自由参数与CP观测量的平均值 | 第60-62页 |
·全角分布中的相位选择规则讨论 | 第62-67页 |
·相位选择规则 | 第63-64页 |
·计算级联衰变过程的全角分布 | 第64-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第4章 改进后测量方案的蒙特卡洛模拟分析 | 第68-85页 |
·方案用于J/ψ → ΛΛ衰变时的蒙特卡洛模拟分析 | 第68-70页 |
·方案用于其它过程时的蒙特卡洛模拟分析 | 第70-74页 |
·全角分布讨论 | 第70-71页 |
·方案用于J/ψ → Σ~0Σ~0衰变时的蒙特卡洛模拟分析 | 第71-73页 |
·方案用于J/ψ → ΞΞ衰变时的蒙特卡洛模拟分析 | 第73-74页 |
·不分区间极大似然法的拟合优度检验 | 第74-83页 |
·拟合优度检验公式 | 第75-79页 |
·拟合优度检验方案的蒙特卡洛研究 | 第79-83页 |
·本章小结 | 第83-85页 |
第5章 J/ψ → γφφ衰变中的CP对称性 | 第85-93页 |
·J/ψ → γφφ衰变的全角分布分析 | 第85-89页 |
·J/ψ粒子直接衰变到γφφ末态 | 第86-88页 |
·J/ψ粒子通过中间束缚态间接衰变到γφφ末态 | 第88-89页 |
·CP破坏观测量的平均值 | 第89-91页 |
·实验测量的可行性 | 第91-92页 |
·本章小结 | 第92-93页 |
结论 | 第93-95页 |
参考文献 | 第95-105页 |
附录 A 选择J/ψ → pp-π+π-事例 | 第105-108页 |
附录 B BESII粒子鉴别方法简介 | 第108-112页 |
攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第112-114页 |
致谢 | 第114-115页 |
个人简历 | 第115页 |