万向节外圈在线精密检测系统设计
致谢 | 第6-7页 |
摘要 | 第7-8页 |
Abstract | 第8-9页 |
1 绪论 | 第16-22页 |
1.1 课题背景及意义 | 第16-17页 |
1.1.1 课题背景 | 第16页 |
1.1.2 课题意义 | 第16-17页 |
1.2 国内外发展现状 | 第17-19页 |
1.2.1 国外发展现状 | 第17-18页 |
1.2.2 国内发展现状 | 第18-19页 |
1.3 本文的研究内容和结构设计 | 第19-21页 |
1.3.1 论文的研究内容 | 第19-20页 |
1.3.2 论文的结构设计 | 第20-21页 |
1.4 本章小结 | 第21-22页 |
2 检测系统方案设计与误差分析 | 第22-46页 |
2.1 检测目标的参数要求和设计任务 | 第22-24页 |
2.2 测量工装总体设计 | 第24页 |
2.3 移动夹具机构 | 第24-28页 |
2.3.1 机构设计 | 第24-25页 |
2.3.2 机构定位误差分析 | 第25-28页 |
2.4 视觉测量系统设计 | 第28-37页 |
2.4.1 高度测量方法比较 | 第28-29页 |
2.4.2 机器视觉系统 | 第29-34页 |
2.4.3 视觉成像系统误差分析 | 第34-37页 |
2.5 外卡槽上边沿到内底距离测量机构设计 | 第37-40页 |
2.5.1 底厚测量方法比较 | 第37页 |
2.5.2 底厚测量设计 | 第37-38页 |
2.5.3 位移传感器测量系统误差分析 | 第38-39页 |
2.5.4 外卡槽上边沿与内底距离测量 | 第39-40页 |
2.6 内径测量机构设计 | 第40-44页 |
2.6.1 内径测量方法比较 | 第40页 |
2.6.2 内径测量方式 | 第40-41页 |
2.6.3 塞规测量机构误差分析 | 第41-44页 |
2.7 上料传输机构 | 第44页 |
2.8 分类剔除机构 | 第44-45页 |
2.9 本章小结 | 第45-46页 |
3 图像分析与处理 | 第46-58页 |
3.1 图像预处理 | 第46-50页 |
3.1.1 直方图均衡化 | 第46-48页 |
3.1.2 图像滤波 | 第48-50页 |
3.2 边缘检测 | 第50-54页 |
3.2.1 边缘模型 | 第50-51页 |
3.2.2 梯度边缘检测 | 第51页 |
3.2.3 拉普拉斯算子边缘检测 | 第51-52页 |
3.2.4 Canny算子边缘检测 | 第52-54页 |
3.2.5 边缘检测方式的选择 | 第54页 |
3.3 亚像素提取 | 第54-57页 |
3.3.1 拟合法 | 第55-56页 |
3.3.2 插值法 | 第56-57页 |
3.3.3 亚像素定位方法选择 | 第57页 |
3.4 本章小结 | 第57-58页 |
4 检测装置系统设计 | 第58-69页 |
4.1 检测装置硬件系统设计 | 第58-62页 |
4.1.1 硬件控制系统框图 | 第58-59页 |
4.1.2 硬件电路设计 | 第59-62页 |
4.2 检测装置软件系统设计 | 第62-68页 |
4.2.1 下位机开发环境 | 第63页 |
4.2.2 上位机开发环境 | 第63-65页 |
4.2.3 检测系统控制流程设计 | 第65-66页 |
4.2.4 检测系统联合编程设计 | 第66-68页 |
4.3 本章小结 | 第68-69页 |
5 测量系统实验结果与分析 | 第69-76页 |
5.1 外卡槽上边沿高度测量实验 | 第69-72页 |
5.1.1 视觉测量系统标定 | 第69-71页 |
5.1.2 标定结果验证 | 第71页 |
5.1.3 外卡槽上边沿高度实验结果 | 第71-72页 |
5.2 底厚测量实验 | 第72-73页 |
5.3 内径测量实验 | 第73-74页 |
5.4 误差分析 | 第74-75页 |
5.5 本章小结 | 第75-76页 |
6 总结与展望 | 第76-78页 |
6.1 全文总结 | 第76-77页 |
6.2 未来展望 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-82页 |
附录A 基于stm32 的控制模块实物图 | 第82-83页 |
作者简历 | 第83页 |