摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第15-35页 |
1.1 课题背景及研究目的和意义 | 第15-16页 |
1.2 国内外研究现状 | 第16-33页 |
1.2.1 一体化复合材料天线结构 | 第16-21页 |
1.2.2 薄膜印刷天线及其力电性能研究 | 第21-23页 |
1.2.3 方向图可重构天线结构 | 第23-28页 |
1.2.4 双稳态复合材料层板 | 第28-33页 |
1.3 主要研究内容 | 第33-35页 |
第2章 薄膜印刷八木天线设计及其力电性能研究 | 第35-62页 |
2.1 引言 | 第35页 |
2.2 薄膜微带准八木天线设计及仿真优化 | 第35-41页 |
2.3 薄膜天线制备及力电性能测试方法 | 第41-45页 |
2.3.1 薄膜天线的制备 | 第41-42页 |
2.3.2 薄膜天线力电性能测试方法 | 第42-45页 |
2.4 薄膜印刷天线力电性能分析与表征 | 第45-53页 |
2.4.1 辐射层弹性模量预测 | 第45-49页 |
2.4.2 辐射层与薄膜基体界面剥离性能研究 | 第49-52页 |
2.4.3 天线电磁性能分析 | 第52-53页 |
2.5 临近空间环境影响试验研究 | 第53-60页 |
2.5.1 高低温热循环影响 | 第54-56页 |
2.5.2 紫外辐照影响 | 第56-58页 |
2.5.3 臭氧环境影响 | 第58-60页 |
2.6 本章小结 | 第60-62页 |
第3章 双稳态微带八木天线构型及临界载荷研究 | 第62-81页 |
3.1 引言 | 第62页 |
3.2 双稳态八木天线结构稳定构型分析 | 第62-71页 |
3.2.1 稳定构型理论预报模型 | 第62-66页 |
3.2.2 双稳态八木天线稳定构型有限元及实验研究 | 第66-69页 |
3.2.3 几何参数对天线结构稳定构型影响分析 | 第69-71页 |
3.3 双稳态八木天线结构跳变临界载荷研究 | 第71-77页 |
3.3.1 双稳态八木天线结构跳变研究 | 第71-74页 |
3.3.2 几何参数对天线结构跳变临界载荷影响分析 | 第74-77页 |
3.4 双稳态八木天线结构驱动实验研究 | 第77-79页 |
3.5 本章小结 | 第79-81页 |
第4章 双稳态微带八木天线电磁性能研究 | 第81-97页 |
4.1 引言 | 第81页 |
4.2 双稳态八木天线电磁仿真几何模型 | 第81-83页 |
4.3 双稳态八木天线方向图可重构性能分析 | 第83-89页 |
4.3.1 双稳态八木天线S参数分析 | 第84-85页 |
4.3.2 双稳态八木天线方向图性能分析 | 第85-87页 |
4.3.3 方向图可重构机理研究 | 第87-89页 |
4.4 几何参数对天线方向图影响分析 | 第89-91页 |
4.4.1 GFRP铺层厚度比影响 | 第89-90页 |
4.4.2 薄膜天线铺设方式影响 | 第90-91页 |
4.5 双稳态八木天线二元阵列方向图性能分析 | 第91-95页 |
4.5.1 功率分配器设计 | 第92-93页 |
4.5.2 二元阵列仿真与测试 | 第93-95页 |
4.6 本章小结 | 第95-97页 |
第5章 双稳态贴片天线阵列构型及电性能研究 | 第97-116页 |
5.1 引言 | 第97页 |
5.2 微带贴片天线阵列结构设计 | 第97-103页 |
5.2.1 天线阵列方向图全向/定向可重构机理 | 第97-98页 |
5.2.2 天线贴片单元设计 | 第98-101页 |
5.2.3 天线阵列设计 | 第101-103页 |
5.3 双稳态天线阵列结构稳定构型分析 | 第103-105页 |
5.4 双稳态天线阵列结构电磁性能分析 | 第105-109页 |
5.4.1 双稳态贴片天线阵列S参数 | 第106页 |
5.4.2 双稳态贴片天线阵列方向图性能 | 第106-109页 |
5.5 几何参数对双稳态天线阵列构型和电性能影响分析 | 第109-115页 |
5.5.1 GFRP铺层厚度比影响分析 | 第109-112页 |
5.5.2 接地板金属厚度影响分析 | 第112-115页 |
5.6 本章小结 | 第115-116页 |
结论 | 第116-119页 |
参考文献 | 第119-132页 |
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第132-135页 |
致谢 | 第135-136页 |
个人简历 | 第136页 |