| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.1 国内研究状况 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国外研究状况 | 第12页 |
| 1.3 主要工作及目标 | 第12-13页 |
| 1.4 论文编写安排 | 第13-14页 |
| 第二章 集成电路测试软件系统关联技术研究 | 第14-31页 |
| 2.1 虚拟仪器技术 | 第14-17页 |
| 2.1.1 虚拟仪器的概述 | 第14-16页 |
| 2.1.2 Lab VIEW的概述 | 第16-17页 |
| 2.1.3 Lab VIEW数据流的概念 | 第17页 |
| 2.2 仪器控制技术 | 第17-22页 |
| 2.2.1 初识仪器控制 | 第17-20页 |
| 2.2.2 Lab VIEW控制仪器设备功能 | 第20-22页 |
| 2.3 数据采集技术 | 第22-30页 |
| 2.3.1 采集数据DAQ系统的基本组成 | 第22-23页 |
| 2.3.2 数据采集设备选型 | 第23-24页 |
| 2.3.3 NI USB-6009 多功能数据采集卡 | 第24-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 集成电路测试软件系统功能需求分析 | 第31-36页 |
| 3.1 系统功能需求分析 | 第31页 |
| 3.2 功能模块的模型分析 | 第31-34页 |
| 3.2.1 程控仪器功能模型分析 | 第31-32页 |
| 3.2.2 测试条件设置功能模型分析 | 第32-33页 |
| 3.2.3 各参数测量采集功能模型分析 | 第33-34页 |
| 3.3 其他需求功能分析 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 集成电路测试软件系统功能模块设计 | 第36-52页 |
| 4.1 系统框架总体功能设计 | 第36-38页 |
| 4.1.1 系统功能设计的一般原则 | 第36页 |
| 4.1.2 系统软件设计环境 | 第36-37页 |
| 4.1.3 系统整体功能框架 | 第37-38页 |
| 4.1.4 测试软件系统应用拓扑设计 | 第38页 |
| 4.2 测试软件系统软件流程框图设计 | 第38-43页 |
| 4.2.1 测试人员管理功能设计 | 第38-39页 |
| 4.2.2 测试条件设置功能设计 | 第39-40页 |
| 4.2.3 测试操作管理功能设计 | 第40-41页 |
| 4.2.4 测试结果管理功能设计 | 第41-43页 |
| 4.3 数据采集设计 | 第43-50页 |
| 4.3.1 数据采集设计概述 | 第43页 |
| 4.3.2 数据采集卡接线设计 | 第43-44页 |
| 4.3.3 数据采集卡采集功能设计 | 第44-50页 |
| 4.4 仪器控制设计 | 第50-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 集成电路测试软件系统实现 | 第52-63页 |
| 5.1 软件系统开发平台环境 | 第52页 |
| 5.2 软件系统各功能模块的实现效果 | 第52-62页 |
| 5.2.1 测试主界面功能实现 | 第53-60页 |
| 5.2.2 测试操作管理功能实现 | 第60页 |
| 5.2.3 测试结果管理功能实现 | 第60-61页 |
| 5.2.4 其他功能实现 | 第61-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 集成电路测试软件系统功能测试 | 第63-67页 |
| 6.1 测试软件系统的环境搭建 | 第63-64页 |
| 6.2 测试软件系统的内容 | 第64页 |
| 6.3 测试软件系统的整体功能 | 第64-66页 |
| 6.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 7.1 总结 | 第67页 |
| 7.2 展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |