准光腔法介电性能高精度测试技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 毫米波低损耗材料介电参数测试技术简介 | 第10-11页 |
| 1.3 本文主要研究内容和创新点 | 第11-14页 |
| 第二章 准光腔的基础理论 | 第14-34页 |
| 2.1 准光学谐振腔系统 | 第14-15页 |
| 2.2 准光腔内场结构及能量分布 | 第15-25页 |
| 2.2.1 高斯波束理论 | 第16-18页 |
| 2.2.2 高阶高斯波束 | 第18-20页 |
| 2.2.3 高斯波束的电磁场分布 | 第20-22页 |
| 2.2.4 高斯波束的能流分布 | 第22-25页 |
| 2.3 准光腔基本参量和常用参数 | 第25-28页 |
| 2.3.1 曲率因子 | 第25页 |
| 2.3.2 菲涅耳数 | 第25-26页 |
| 2.3.3 束腰半径 | 第26页 |
| 2.3.4 谐振频率 | 第26-27页 |
| 2.3.5 品质因数 | 第27-28页 |
| 2.4 复介电常数测试原理 | 第28-34页 |
| 2.4.1 相对介电常数计算公式 | 第29-32页 |
| 2.4.2 损耗角正切计算公式 | 第32-34页 |
| 第三章 高精度复介电常数测试系统 | 第34-49页 |
| 3.1 常规准光腔腔体设计 | 第34-38页 |
| 3.1.1 球面镜曲率半径R | 第34-35页 |
| 3.1.2 准光腔腔长D | 第35-36页 |
| 3.1.3 平面镜口径与球面镜口径 | 第36-38页 |
| 3.2 等相位面匹配准光腔腔体设计 | 第38-40页 |
| 3.2.1 与常规球面准光腔对比分析 | 第39-40页 |
| 3.2.2 等相位面匹配准光腔系统设计 | 第40页 |
| 3.3 谐振频率修正 | 第40-41页 |
| 3.4 高精度准光谐振系统的制备 | 第41-46页 |
| 3.4.1 耦合装置 | 第42-43页 |
| 3.4.2 软件设计 | 第43-46页 |
| 3.5 测试系统的完善 | 第46-49页 |
| 3.5.1 宽频带内精确腔长的确定 | 第46-47页 |
| 3.5.2 高阶模式的消除 | 第47页 |
| 3.5.3 测试流程及规范制定 | 第47-49页 |
| 第四章 测试结果与误差分析 | 第49-64页 |
| 4.1 空腔测试结果对比 | 第49-52页 |
| 4.2 等相位面匹配准光腔测试 | 第52-54页 |
| 4.3 测试结果分析与检验 | 第54-57页 |
| 4.4 误差分析 | 第57-64页 |
| 4.4.1 近似理论引入的误差 | 第57-58页 |
| 4.4.2 相关参数提取不准引入的误差 | 第58-60页 |
| 4.4.3 损耗正切测试误差 | 第60-62页 |
| 4.4.4 镜面粗糙度对结果影响 | 第62-64页 |
| 第五章 结论 | 第64-66页 |
| 5.1 课题研究的主要内容和创新点 | 第64页 |
| 5.2 本文的不足与展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第69页 |
