面向强反射表面的多传感器三维检测技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 图表清单 | 第9-11页 |
| 注释表 | 第11-12页 |
| 缩略词 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 引言 | 第13-14页 |
| 1.2 三维检测技术的发展及应用 | 第14-19页 |
| 1.2.1 光学三维检测技术介绍 | 第14-15页 |
| 1.2.2 光学三维检测系统的构成和功能评价 | 第15-17页 |
| 1.2.3 国内外光学三维检测技术发展现状 | 第17-19页 |
| 1.3 本课题的选题依据 | 第19页 |
| 1.4 本课题的研究内容及结构安排 | 第19-21页 |
| 第二章 多传感器三维检测系统标定技术研究 | 第21-33页 |
| 2.1 引言 | 第21-23页 |
| 2.2 多传感器三维检测系统介绍 | 第23-24页 |
| 2.2.1 多传感器三维检测总体模型 | 第23页 |
| 2.2.2 多传感器三维检测系统工作原理 | 第23-24页 |
| 2.3 坐标系统一化全局标定方法 | 第24-31页 |
| 2.3.1 全局标定方法介绍 | 第24-26页 |
| 2.3.2 检测系统标定流程 | 第26页 |
| 2.3.3 单个视觉传感器标定 | 第26-29页 |
| 2.3.4 检测系统的全局标定 | 第29-31页 |
| 2.4 检测系统全局优化 | 第31-32页 |
| 2.4.1 LM 算法 | 第31-32页 |
| 2.4.2 优化目标函数 | 第32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 强反射材质表面高光处理技术研究 | 第33-42页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 强反射表面高光消除的传统方法 | 第33-34页 |
| 3.2.1 两色反射模型法 | 第34页 |
| 3.2.2 图像补色方法 | 第34页 |
| 3.2.3 光照约束补色方法 | 第34页 |
| 3.3 基于峰值连续性的高光处理算法 | 第34-38页 |
| 3.3.1 高光图像特征 | 第34-36页 |
| 3.3.2 峰值连续性方法 | 第36-38页 |
| 3.4 实验结果 | 第38-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 光条纹中心提取技术研究 | 第42-60页 |
| 4.1 结构光条纹特征 | 第42页 |
| 4.2 常用的像素级别特征提取方法 | 第42-46页 |
| 4.2.1 灰度重心法 | 第43页 |
| 4.2.2 极值法 | 第43-44页 |
| 4.2.3 方向模板法 | 第44页 |
| 4.2.4 阈值法 | 第44-45页 |
| 4.2.5 几何中心法 | 第45-46页 |
| 4.3 常用的亚像素级别特征提取方法 | 第46-48页 |
| 4.3.1 曲线拟合法 | 第46-47页 |
| 4.3.2 Hessian 矩阵亚像素中心提取法 | 第47-48页 |
| 4.4 基于方向图的光条纹亚像素中心提取 | 第48-54页 |
| 4.4.1 光条纹中心初值提取 | 第48-49页 |
| 4.4.2 光条纹法向计算 | 第49-52页 |
| 4.4.3 光条纹亚像素级别中心提取 | 第52-53页 |
| 4.4.4 实验结果与分析 | 第53-54页 |
| 4.5 特征检测技术研究 | 第54-59页 |
| 4.5.1 背景介绍 | 第54页 |
| 4.5.2 常见特征及其检测方法介绍 | 第54-57页 |
| 4.5.3 实验结果与分析 | 第57-59页 |
| 4.6 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 系统搭建与实验 | 第60-72页 |
| 5.1 三维检测系统硬件 | 第60-64页 |
| 5.1.1 系统整体实物图 | 第60页 |
| 5.1.2 系统分部件介绍 | 第60-64页 |
| 5.2 三维检测系统软件 | 第64-66页 |
| 5.2.1 检测软件界面 | 第64页 |
| 5.2.2 三维检测系统检测流程 | 第64-66页 |
| 5.3 系统实验与分析 | 第66-71页 |
| 5.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 总结 | 第72-73页 |
| 6.2 工作展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第82页 |
