| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第一章 引言 | 第14-21页 |
| 1.1 研究目的及意义 | 第14-15页 |
| 1.2 Si(5 5 12)的表面结构 | 第15-19页 |
| 1.3 Si(3 3 7)的表面结构 | 第19-21页 |
| 第二章 超高真空扫描隧道显微镜(UHV-STM)的原理及实验方法 | 第21-28页 |
| 2.1 扫描隧道显微镜的原理及应用 | 第21-25页 |
| 2.2 实验方法及过程 | 第25-28页 |
| 第三章 Si(3 3 7)结构的形成 | 第28-48页 |
| 3.1 高温加热Si(5 5 12)表面时形成的Si(3 3 7)-4×1结构 | 第28-31页 |
| 3.2 在Si(5 5 12)样品表面上吸附Ge时形成的Si(3 3 7)-4×1结构 | 第31-35页 |
| 3.3 大面积的Si(3 3 7)-4×1结构的形成与Si(5 5 12)样品表面的平均面方向的关系 | 第35-36页 |
| 3.4 在Si(5 5 12)样品表面上吸附C_2H_2气体时形成的Si(3 3 7)-4×1结构 | 第36-46页 |
| 3.5 在Si(5 5 12)样品表面上吸附O2气体时形成的Si(3 3 7)-4×1结构 | 第46-48页 |
| 第四章 结论 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 附录A：攻读硕士期间发表的文章 | 第54-55页 |
