∑△ADC的数字滤波电路及抖动电路的设计
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 引言 | 第8-11页 |
·论文研究意义及背景 | 第8-10页 |
·论文的主要工作 | 第10页 |
·论文的结构安排 | 第10-11页 |
第2章 ∑△ADC基本原理 | 第11-37页 |
·ADC基本原理 | 第11-13页 |
·采样与保持 | 第11-12页 |
·量化与编码 | 第12-13页 |
·ADC的性能指标 | 第13-17页 |
·静态指标 | 第13-15页 |
·动态指标 | 第15-17页 |
·∑△调制器基本原理 | 第17-25页 |
·量化噪声理论 | 第17-19页 |
·过采样 | 第19-20页 |
·噪声整形 | 第20-21页 |
·∑△调制器工作原理 | 第21-25页 |
·数字抽取滤波器基本原理 | 第25-33页 |
·抽取与滤波 | 第26-27页 |
·梳状滤波器的原理 | 第27-30页 |
·梳状滤波器的结构 | 第30-31页 |
·半带滤波器 | 第31-33页 |
·幅度补偿滤波器 | 第33页 |
·AADC的空闲音(平台区)及抖动机制 | 第33-37页 |
·空闲音(平台区) | 第33-34页 |
·抖动机制 | 第34-37页 |
第3章 系统设计 | 第37-52页 |
·系统功能及模块介绍 | 第37-39页 |
·系统功能介绍 | 第37-38页 |
·主要模块介绍 | 第38-39页 |
·数字滤波器设计 | 第39-42页 |
·梳状滤波器的参数选择 | 第39-40页 |
·梳状滤波器的设计 | 第40-42页 |
·抖动电路设计 | 第42-46页 |
·ADC误差校准机制设计 | 第46-48页 |
·增益误差校准 | 第46-47页 |
·偏移误差校准 | 第47-48页 |
·ADC通道的时分复用设计 | 第48-50页 |
·系统上电时的ADC通道时分复用 | 第48页 |
·正常扫描时的ADC通道时分复用 | 第48-49页 |
·偏移扫描时的ADC通道时分复用 | 第49页 |
·睡眠模式下的ADC通道时分复用 | 第49-50页 |
·ADC的可测性设计 | 第50-52页 |
第4章 数字电路实现与仿真 | 第52-59页 |
·数字电路模块实现 | 第52-53页 |
·ADC的数字滤波电路实现 | 第52页 |
·抖动电路的数字部分实现 | 第52-53页 |
·ADC模拟部分的数字建模 | 第53-55页 |
·数字电路仿真 | 第55-59页 |
·ADC通道的时分复用波形 | 第55-56页 |
·12-bit ADC通道的数字波形 | 第56-57页 |
·14-bit ADC通道的数字波形 | 第57-58页 |
·抖动电路的数字波形 | 第58-59页 |
第5章 芯片测试 | 第59-65页 |
·ADC的增益误差调整及测试 | 第60-61页 |
·RC振荡器调整 | 第60页 |
·电压通道ADC的增益误差调整及测试 | 第60-61页 |
·温度通道和电池ID通道的ADC的增益误差测试 | 第61页 |
·ADC的抖动电路测试 | 第61-63页 |
·抖动电路关断时的ADC的平台区 | 第61-62页 |
·抖动电路使能时的ADC的平台区 | 第62-63页 |
·ADC的FFT测试结果 | 第63-64页 |
·芯片的测试小结 | 第64-65页 |
第6章 总结与展望 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-69页 |
致谢 | 第69-70页 |