基于PXI的天线幅相测试系统的软硬件实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第10页 |
| 1.2 天线测试的国内外研究历史与现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 概述 | 第10-11页 |
| 1.2.2 远场测量技术 | 第11页 |
| 1.2.3 近场测量技术 | 第11页 |
| 1.2.4 国内外的天线测试系统 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的主要贡献与创新 | 第12页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 天线测量基础 | 第14-25页 |
| 2.1 辐射参数测量 | 第14-20页 |
| 2.1.1 方向图测量的概念及测量方法 | 第14-18页 |
| 2.1.2 相位测量的概念及测量方法 | 第18-20页 |
| 2.2 天线辐射场区 | 第20-22页 |
| 2.2.1 感应场区 | 第20-21页 |
| 2.2.2 辐射近场区 | 第21页 |
| 2.2.3 辐射远场区 | 第21-22页 |
| 2.3 天线测试场地的选择 | 第22-24页 |
| 2.3.1 远场测量 | 第22-23页 |
| 2.3.2 近场测量 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 测试系统整体设计方案 | 第25-35页 |
| 3.1 主要技术路线 | 第25-27页 |
| 3.1.1 测试场地的选择 | 第25页 |
| 3.1.2 测量参数及方法的选择 | 第25页 |
| 3.1.3 测试系统的组成及技术要求 | 第25-27页 |
| 3.2 转台系统 | 第27页 |
| 3.3 幅相测量系统 | 第27-31页 |
| 3.3.1 测量设备的发展 | 第27-28页 |
| 3.3.2 测量设备的对比 | 第28-31页 |
| 3.3.2.1 总线方式对比 | 第28-29页 |
| 3.3.2.2 测量仪器对比 | 第29-31页 |
| 3.4 数传系统 | 第31-32页 |
| 3.4.1 有线数据传输 | 第31-32页 |
| 3.4.2 无线数据传输 | 第32页 |
| 3.5 控制系统 | 第32-34页 |
| 3.5.1 物理链路的选择 | 第32页 |
| 3.5.2 软件设计平台的选择 | 第32-34页 |
| 3.6 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 硬件设计与分析 | 第35-43页 |
| 4.1 转台和控制器 | 第35-36页 |
| 4.1.1 MI-53230D型转台特性 | 第35页 |
| 4.1.2 MI-710C型控制器特性 | 第35-36页 |
| 4.2 幅相测量设备 | 第36-40页 |
| 4.2.1 工作原理 | 第37页 |
| 4.2.2 组成结构 | 第37-39页 |
| 4.2.3 相位算法 | 第39-40页 |
| 4.3 参考信号源 | 第40页 |
| 4.4 无线数据传输模块 | 第40-41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-43页 |
| 第五章 系统软件编制 | 第43-57页 |
| 5.1 软件的总体结构 | 第43页 |
| 5.2 主程序的设计 | 第43-46页 |
| 5.3 测量子程序的设计 | 第46-48页 |
| 5.4 驱动程序的设计 | 第48-54页 |
| 5.4.1 VISA方式的驱动程序 | 第49-51页 |
| 5.4.2 UDP方式的驱动程序 | 第51-54页 |
| 5.5 测量软件设计实现 | 第54-56页 |
| 5.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 第六章 系统性能验证 | 第57-62页 |
| 6.1 软件测试 | 第57-58页 |
| 6.2 实验室性能验证 | 第58-60页 |
| 6.3 实际性能验证 | 第60-61页 |
| 6.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第七章 全文总结及工作展望 | 第62-63页 |
| 7.1 全文总结 | 第62页 |
| 7.2 工作展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第66-67页 |
