基于TSOM算法的电磁波逆散射成像研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第16-19页 |
| 2 逆散射成像的基本原理 | 第19-33页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 电磁逆散射问题的基本模型 | 第19-22页 |
| 2.3 MOM计算方法 | 第22-23页 |
| 2.4 电磁优化算法概述 | 第23页 |
| 2.5 SOM优化算法 | 第23-27页 |
| 2.6 SOM优化算法的改进 | 第27-31页 |
| 2.7 本章小结 | 第31-33页 |
| 3 基于TSOM算法的逆散射成像 | 第33-43页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 介质散射体的逆散射成像 | 第33-34页 |
| 3.3 Austria散射体的反演成像 | 第34-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 4 金属物体的逆散射成像 | 第43-57页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 TE波入射下金属物体的逆散射模型 | 第43-45页 |
| 4.3 金属物体逆散射成像算法 | 第45-47页 |
| 4.4 实例分析 | 第47-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-57页 |
| 5 多重散射效应对逆散射成像的影响 | 第57-67页 |
| 5.1 引言 | 第57页 |
| 5.2 多重散射下的逆问题模型 | 第57-60页 |
| 5.3 实例分析 | 第60-66页 |
| 5.4 入射场的扰动对逆散射成像的影响 | 第66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 6 逆散射成像的实验研究 | 第67-81页 |
| 6.1 引言 | 第67页 |
| 6.2 散射场的测量方法与误差处理 | 第67-69页 |
| 6.3 远场散射场的测量方案 | 第69-72页 |
| 6.4 近场散射场的测量方案 | 第72页 |
| 6.5 测量数据处理 | 第72-79页 |
| 6.6 本章小结 | 第79-81页 |
| 7 结束语 | 第81-83页 |
| 7.1 全文总结 | 第81-82页 |
| 7.2 未来研究方向展望 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-89页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文 | 第89-90页 |
