| 提要 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-46页 |
| 1.1 磁电子学 | 第12-15页 |
| 1.2 磁电阻的概述 | 第15-19页 |
| 1.3 化学溶液沉积法（chemical solution deposition，CSD）制备钙钛矿薄膜材料 | 第19-24页 |
| 1.3.1 背景介绍 | 第19-21页 |
| 1.3.2 溶胶的制备 | 第21-22页 |
| 1.3.3 溶胶-凝胶步骤 | 第22-23页 |
| 1.3.4 薄膜沉积过程 | 第23-24页 |
| 1.4 磁性 | 第24-27页 |
| 1.4.1 磁性的来源 | 第24页 |
| 1.4.2 磁性的分类 | 第24-27页 |
| 1.5 钙钛矿中的重要理论 | 第27-44页 |
| 1.5.1 铁磁性金属 | 第27页 |
| 1.5.2 晶场效应 | 第27-28页 |
| 1.5.3 Jahn-Teller 畸变 | 第28-29页 |
| 1.5.4 双交换理论 | 第29-30页 |
| 1.5.5 Anderson-Hasegawa 对双交换理论的发展 | 第30-31页 |
| 1.5.6 极化子理论 | 第31-33页 |
| 1.5.7 相分离 | 第33-34页 |
| 1.5.8 容忍因子 | 第34-35页 |
| 1.5.9 A 位离子掺杂的影响 | 第35-37页 |
| 1.5.10 镧系收缩 | 第37页 |
| 1.5.11 磁有序 | 第37-38页 |
| 1.5.12 自旋有序 | 第38-39页 |
| 1.5.13 电荷有序 | 第39页 |
| 1.5.14 轨道有序 | 第39-40页 |
| 1.5.15 电输运性质 | 第40-41页 |
| 1.5.16 自旋玻璃态 | 第41-42页 |
| 1.5.17 Mott 绝缘体 | 第42-43页 |
| 1.5.18 金属-绝缘体转变 | 第43-44页 |
| 1.5.19 Mott-Hubbard 绝缘体与电荷转移绝缘体 | 第44页 |
| 1.6 本课题选题的目的、意义和主要结果 | 第44-46页 |
| 1.6.1 本课题选题的目的和意义 | 第44-45页 |
| 1.6.2 本论文的主要结果 | 第45-46页 |
| 第2章 样品的制备与表征 | 第46-57页 |
| 2.1 样品的制备方法简介 | 第46-49页 |
| 2.1.1 基片的清洗 | 第46-47页 |
| 2.1.2 胶体配制 | 第47-48页 |
| 2.1.3 旋涂、预热及退火过程 | 第48-49页 |
| 2.2 主要检测仪器及相应测试条件 | 第49-57页 |
| 2.2.1 X-射线衍射分析（XRD） | 第49-50页 |
| 2.2.2 扫描电镜（SEM）分析 | 第50-51页 |
| 2.2.3 X 射线光电子能谱仪（XPS）分析 | 第51-53页 |
| 2.2.4 超导量子干涉仪（SQUIDS）分析 | 第53-54页 |
| 2.2.5 原子力显微镜（AFM）分析 | 第54-55页 |
| 2.2.6 铁电测试系统分析 | 第55-57页 |
| 第3章 在 Si（100）基片上制备的 La_(1-x)K_xMnO_3和 La_(0.95-x)Ca_(0.05)K_xMnO_3薄膜样品的结构及磁性研究 | 第57-70页 |
| 3.1 引言 | 第57-58页 |
| 3.2 实验部分 | 第58-59页 |
| 3.2.1 实验试剂 | 第58页 |
| 3.2.2 主要检测仪器与相应的测试条件 | 第58页 |
| 3.2.3 合成方法及实验条件 | 第58-59页 |
| 3.3 LKMO/Si（100）样品结果与讨论 | 第59-65页 |
| 3.3.1 LKMO/Si（100）样品的 XRD 结果分析 | 第59-60页 |
| 3.3.2 LKMO/Si（100）样品的 AFM 结果 | 第60-61页 |
| 3.3.3 LKMO/Si（100）样品的 SEM 结果分析 | 第61-62页 |
| 3.3.4 LKMO/Si（100）样品的 XPS 结果分析 | 第62-64页 |
| 3.3.5 LKMO 样品的 ZFC-FC 结果分析 | 第64-65页 |
| 3.4 LCKMO/Si（100）样品结果与讨论 | 第65-69页 |
| 3.4.1 LCKM/Si（100）样品的 XRD 结果分析 | 第65-66页 |
| 3.4.2 LCKM/Si（100）样品的 SEM 结果分析 | 第66-67页 |
| 3.4.3 LCKM/Si（100）样品的 XPS 结果分析 | 第67-69页 |
| 3.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 第4章 在 LAO（100）基片上制备的 La_(1-x)K_xMnO_3（x=0.05，0.10，0.15，0.20）薄膜样品的结构及磁性研究 | 第70-88页 |
| 4.1 引言 | 第70页 |
| 4.2 实验部分 | 第70-72页 |
| 4.2.1 实验试剂 | 第70-71页 |
| 4.2.2 主要检测仪器与相应的测试条件 | 第71页 |
| 4.2.3 合成方法及实验条件 | 第71-72页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第72-87页 |
| 4.3.1 样品的 SEM 与 XRD 结果分析 | 第72-75页 |
| 4.3.2 XPS 谱图分析 | 第75-79页 |
| 4.3.3 ZFC 和 FC 曲线分析 | 第79-81页 |
| 4.3.4 ρ-T 曲线分析 | 第81-82页 |
| 4.3.5 Mn~(4+)，TC，TIM之间的关系 | 第82-83页 |
| 4.3.6 MR 计算结果 | 第83-84页 |
| 4.3.7 磁卡效应分析 | 第84-87页 |
| 4.4 本章小结 | 第87-88页 |
| 第5章 在 LAO（100）基片上制备的 La_(0.95-x)Ca_(0.05)K_xMnO_3（x=0.05，0.10，0.15，0.20）薄膜样品的结构及磁性研究 | 第88-100页 |
| 5.1 引言 | 第88-89页 |
| 5.2 实验部分 | 第89-90页 |
| 5.2.1 实验试剂 | 第89页 |
| 5.2.2 主要检测仪器与相应的测试条件 | 第89页 |
| 5.2.3 合成方法及实验条件 | 第89-90页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第90-99页 |
| 5.3.1 样品的 SEM 和 XRD 结果分析 | 第90-92页 |
| 5.3.2 样品的 XPS 结果分析 | 第92-94页 |
| 5.3.3 样品的 ZFC-FC 结果分析 | 第94-95页 |
| 5.3.4 样品的ρ-T 结果分析 | 第95-96页 |
| 5.3.5 磁卡效应分析 | 第96-99页 |
| 5.4 本章小结 | 第99-100页 |
| 第6章 在 ITO/glass 基片上制备的 BiFeO_3薄膜样品的结构及性质研究 | 第100-109页 |
| 6.1 引言 | 第100-101页 |
| 6.2 实验部分 | 第101-102页 |
| 6.2.1 实验试剂 | 第101页 |
| 6.2.2 主要检测仪器与相应的测试条件 | 第101页 |
| 6.2.3 合成方法及实验条件 | 第101-102页 |
| 6.3 结果与讨论 | 第102-108页 |
| 6.3.1 样品的 XRD 结果分析 | 第102-103页 |
| 6.3.2 样品的 SEM 结果分析 | 第103-104页 |
| 6.3.3 样品的 XPS 结果分析 | 第104-105页 |
| 6.3.4 样品的 PPMS 结果分析 | 第105-107页 |
| 6.3.5 样品的铁电性结果分析 | 第107-108页 |
| 6.4 本章小结 | 第108-109页 |
| 第7章 结论 | 第109-111页 |
| 结论 | 第109-110页 |
| 展望 | 第110-111页 |
| 参考文献 | 第111-125页 |
| 作者简介 | 第125页 |
| 攻读博士学位期间发表论文 | 第125-127页 |
| 致谢 | 第127页 |
