| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 紫外辐射与紫外探测技术简介 | 第9-13页 |
| 1.1.1 紫外辐射 | 第9-10页 |
| 1.1.2 紫外探测技术 | 第10-13页 |
| 1.2 宽禁带半导体紫外光电探测器 | 第13-16页 |
| 1.3 TiO_2材料及紫外光电探测器的研究进展 | 第16-17页 |
| 1.4 异质材料及紫外探测器简介 | 第17页 |
| 1.5 本论文的选题依据与研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 TiO_2材料及紫外探测器 | 第19-38页 |
| 2.1 TiO_2纳米薄膜及紫外探测器 | 第19-31页 |
| 2.1.1 TiO_2纳米薄膜制备 | 第19-21页 |
| 2.1.2 TiO_2纳米薄膜表征 | 第21-25页 |
| 2.1.3 TiO_2纳米薄膜紫外探测器制作 | 第25-27页 |
| 2.1.4 TiO_2纳米薄膜紫外探测器性能测试 | 第27-31页 |
| 2.2 TiO_2纳米线阵列及紫外探测器 | 第31-36页 |
| 2.2.1 TiO_2纳米线阵列制备 | 第31-32页 |
| 2.2.2 TiO_2纳米线阵列表征 | 第32-34页 |
| 2.2.3 TiO_2纳米线阵列紫外探测器制作 | 第34页 |
| 2.2.4 TiO_2纳米线阵列紫外探测器性能测试 | 第34-36页 |
| 2.3 本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 TiO_2/GO异质薄膜材料及紫外探测器 | 第38-50页 |
| 3.1 TiO_2/GO异质材料制备 | 第38-39页 |
| 3.2 TiO_2/GO异质材料表征 | 第39-42页 |
| 3.3 TiO_2/GO紫外探测器制作 | 第42-43页 |
| 3.4 TiO_2/GO紫外探测器性能测试与机理分析 | 第43-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 TiO_2/ZnO异质材料及紫外探测器 | 第50-58页 |
| 4.1 TiO_2/ZnO异质材料制备 | 第50页 |
| 4.2 TiO_2/ZnO异质材料表征 | 第50-52页 |
| 4.3 TiO_2/ZnO紫外探测器制作 | 第52-53页 |
| 4.4 TiO_2/ZnO紫外探测器性能测试与机理分析 | 第53-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 总结 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-66页 |
| 作者简介及科研成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
