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薄膜有序堆积对电存储器件性能的影响研究

中文摘要第4-6页
abstract第6-7页
第一章 前言第10-28页
    1.1 引言第10-11页
    1.2 电存储材料的类型和发展现状第11-21页
        1.2.1 聚合物存储器件第11-13页
        1.2.2 有机小分子器件第13-18页
        1.2.3 无机材料存储器件第18-20页
        1.2.4 有机/无机杂化存储器件第20-21页
    1.3 有机/无机材料不同堆积对器件性能优化的探索第21-25页
        1.3.1 分子基团改变对堆积的影响第21-23页
        1.3.2 旋涂速率对堆积的影响第23-24页
        1.3.3 界面调控对堆积的影响第24-25页
    1.4 论文选题的意义和研究内容第25-28页
        1.4.1 论文选题的意义第25-26页
        1.4.2 本论文研究内容第26页
        1.4.3 本论文的创新点第26-28页
第二章 三苯胺作为分子桥键对电存储器件的负面影响第28-43页
    2.1 引言第28-30页
    2.2 实验部分第30-33页
        2.2.1 试剂第30页
        2.2.2 测试仪器第30页
        2.2.3 ZIPGA和ZIPCAD的合成第30-33页
        2.2.4 三明治器件制备第33页
    2.3 结果与讨论第33-42页
        2.3.1 热稳定性第33-34页
        2.3.2 光学和电化学性能第34-37页
        2.3.3 器件性能第37-39页
        2.3.4 薄膜形态和分子形态第39-40页
        2.3.5 机理解释第40-42页
    2.4 本章小结第42-43页
第三章 基于外消旋效应提高有机电存储器件性能第43-52页
    3.1 引言第43-45页
    3.2 实验部分第45-46页
        3.2.1 试剂第45页
        3.2.2 仪器第45页
        3.2.3 器件制备第45-46页
    3.3 结果与讨论第46-51页
        3.3.1 器件性能第46-49页
        3.3.2 器件表征第49-50页
        3.3.3 机理解释第50-51页
    3.4 本章小结第51-52页
第四章 钙钛矿材料在电存储器件中不同堆积间距产生的不同性能表现第52-58页
    4.1 引言第52-53页
    4.2 实验部分第53-54页
        4.2.1 试剂第53页
        4.2.2 仪器第53页
        4.2.3 器件制备第53页
        4.2.4 合成步骤第53-54页
    4.3 结果与讨论第54-57页
        4.3.1 器件性能第54-55页
        4.3.2 材料表征第55-57页
    4.4 本章小结第57-58页
第五章 结论与展望第58-60页
    5.1 本文总结第58-59页
    5.2 展望第59-60页
参考文献第60-77页
攻读学位期间论文发表和整理情况第77-78页
致谢第78-79页

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