| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-16页 |
| ·选题依据及研究意义 | 第11-13页 |
| ·研究现状 | 第13-15页 |
| ·研究内容 | 第15页 |
| ·课题依托 | 第15页 |
| ·预期研究成果 | 第15-16页 |
| 第2章 X射线空气比释动能理论基础 | 第16-26页 |
| ·X 射线理论 | 第16-21页 |
| ·X 射线介绍 | 第16页 |
| ·X 射线的分类 | 第16-17页 |
| ·X 射线特性 | 第17-18页 |
| ·X 射线机 | 第18-19页 |
| ·X 射线的应用 | 第19-21页 |
| ·空气比释动能 | 第21-22页 |
| ·定义 | 第21页 |
| ·空气比释动能与照射量 | 第21-22页 |
| ·X 射线探测器 | 第22-26页 |
| ·气体探测器 | 第22-23页 |
| ·闪烁探测器 | 第23-24页 |
| ·半导体探测器 | 第24页 |
| ·热释光探测器 | 第24-26页 |
| 第3章 基准系统的建立 | 第26-44页 |
| ·基准系统总体设计思想 | 第26页 |
| ·X 射线发生与准直装置 | 第26-30页 |
| ·X 射线机 | 第26-28页 |
| ·X 射线机光学平台 | 第28-29页 |
| ·X 射线准直装置 | 第29-30页 |
| ·X 射线过滤装置 | 第30-32页 |
| ·机械定位与监测系统 | 第32-34页 |
| ·机械定位系统 | 第32-33页 |
| ·监测系统 | 第33-34页 |
| ·自由空气电离室 | 第34-40页 |
| ·绝对测量 | 第34-35页 |
| ·设计原则 | 第35-36页 |
| ·低能X 射线基准电离室 | 第36-40页 |
| ·中能X 射线基准电离室 | 第40页 |
| ·弱电流控制系统 | 第40-44页 |
| 第4章 基准辐射场的研究 | 第44-60页 |
| ·X 射线辐射场的描述 | 第44-45页 |
| ·半值层测量方法及其对比研究 | 第45-47页 |
| ·半值层测量方法 | 第45-46页 |
| ·半值层测量方法对比研究 | 第46-47页 |
| ·低能X 射线辐射场半值层的测量 | 第47-52页 |
| ·实验设计 | 第47-49页 |
| ·实验结果 | 第49-52页 |
| ·中能X 射线辐射场半值层的测量 | 第52-53页 |
| ·X 射线机管电压和管电流对辐射场剂量率测量的影响研究 | 第53-56页 |
| ·管电压和管电流对辐射场剂量率的影响 | 第53页 |
| ·管电压的影响 | 第53-54页 |
| ·管电流的影响 | 第54-55页 |
| ·小节 | 第55-56页 |
| ·X 射线辐射场均匀性 | 第56-60页 |
| ·低能X 射线辐射场均匀性 | 第56-58页 |
| ·中能X 射线辐射场均匀性 | 第58-60页 |
| 第5章 X射线能谱测量 | 第60-71页 |
| ·X 射线能谱 | 第60-61页 |
| ·X 射线能谱测量装置 | 第61-62页 |
| ·能谱仪 | 第61页 |
| ·屏蔽准直系统的设计 | 第61-62页 |
| ·能量刻度 | 第62页 |
| ·能谱测量结果 | 第62-68页 |
| ·展望 | 第68-71页 |
| ·低能X 射线能谱测量 | 第68页 |
| ·能谱的间接测量 | 第68-71页 |
| 结论 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第75页 |