| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第11页 |
| 1.2 研究目的和意义 | 第11-12页 |
| 1.2.1 研究目的 | 第11-12页 |
| 1.2.2 研究意义 | 第12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 论文主要研究内容与结构安排 | 第14-15页 |
| 1.4.1 主要研究内容 | 第14页 |
| 1.4.2 总体结构安排 | 第14-15页 |
| 1.5 本章小结 | 第15-16页 |
| 第2章 基于MBD的检测工艺规划基本理论 | 第16-25页 |
| 2.1 数字化检测技术概念与原理 | 第16-17页 |
| 2.2 数字化检测工艺规划 | 第17-20页 |
| 2.2.1 检测工艺规划 | 第17-18页 |
| 2.2.2 测量误差与数据处理 | 第18-20页 |
| 2.3 MBD模型数据结构与传递方式 | 第20-24页 |
| 2.3.1 MBD模型数据结构 | 第20-22页 |
| 2.3.2 面向过程的模型数据传递 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 基于MBD的检测工艺分工规划 | 第25-37页 |
| 3.1 检测工艺分工基本概念 | 第25-28页 |
| 3.1.1 测量要素与特征 | 第25页 |
| 3.1.2 检测单元 | 第25-26页 |
| 3.1.3 检测工艺路线 | 第26-27页 |
| 3.1.4 检测工艺分工 | 第27-28页 |
| 3.2 检测工艺分工路线生成 | 第28-34页 |
| 3.2.1 检测工艺模型建立与分析 | 第28-29页 |
| 3.2.2 基于约束的检测工艺分工规划 | 第29-33页 |
| 3.2.3 检测工艺分工路线 | 第33-34页 |
| 3.3 系统结构组成 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第4章 基于特征的检测工艺规划 | 第37-63页 |
| 4.1 基于特征的测量点数确定 | 第37-42页 |
| 4.1.1 基本几何特征 | 第37-38页 |
| 4.1.2 规则曲面特征 | 第38-41页 |
| 4.1.3 复杂平面特征 | 第41-42页 |
| 4.2 基于特征的采样点分布策略 | 第42-54页 |
| 4.2.1 采样点布置策略分析 | 第42-45页 |
| 4.2.2 基于叶序理论布点 | 第45-47页 |
| 4.2.3 基于Hammersley序列布点 | 第47-48页 |
| 4.2.4 基于Halton序列与改进Halton序列布点 | 第48-51页 |
| 4.2.5 基于特征形心划分的采样点布置策略 | 第51-54页 |
| 4.3 常用形位误差评价分析 | 第54-57页 |
| 4.3.1 圆度 | 第54-55页 |
| 4.3.2 圆柱度 | 第55页 |
| 4.3.3 平面度 | 第55-56页 |
| 4.3.4 跳动 | 第56-57页 |
| 4.4 检测工艺路线生成与优化 | 第57-58页 |
| 4.5 实例分析与验证 | 第58-62页 |
| 4.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 测量结果分析与表面形貌预测 | 第63-76页 |
| 5.1 测量结果分析 | 第63-68页 |
| 5.1.1 谐波分析法 | 第63-64页 |
| 5.1.2 谐波误差物理意义 | 第64-65页 |
| 5.1.3 谐波误差分离 | 第65-68页 |
| 5.2 表面形貌预测 | 第68-71页 |
| 5.2.1 回转体表面形貌分析 | 第68-69页 |
| 5.2.2 表面形貌预测 | 第69-71页 |
| 5.3 实例分析与验证 | 第71-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 结论 | 第76-78页 |
| 附录 DMIS程序清单 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读硕士期间发表（含录用）的学术论文 | 第84-85页 |