波长扫描激光器线宽的动态测量
| 致谢 | 第5-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 1 引言 | 第10-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-14页 |
| 1.1.1 光纤环形腔激光器 | 第10-11页 |
| 1.1.2 光学相干断层扫描技术简介 | 第11-12页 |
| 1.1.3 波长扫描激光器性能测试的意义 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-18页 |
| 1.2.1 波长扫描激光器研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2.2 波长扫描激光器线宽测量技术研究现状 | 第15-18页 |
| 1.3 研究工作与内容 | 第18-19页 |
| 2 基于SOA光纤环形腔波长扫描激光器 | 第19-28页 |
| 2.1 基于SOA波长扫描激光器基本原理 | 第19-20页 |
| 2.2 波长扫描激光器的性能改进 | 第20-25页 |
| 2.2.1 信号源的功能模块设计 | 第20-22页 |
| 2.2.2 数模转换与滤波整形 | 第22-25页 |
| 2.3 激光器各器件对光谱线宽的影响 | 第25-27页 |
| 2.3.1 光谱线宽的展宽 | 第25-26页 |
| 2.3.2 影响光谱线宽的因素 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 外差法测量 | 第28-34页 |
| 3.1 外差法测量的理论基础 | 第28-29页 |
| 3.2 外差法测量系统 | 第29页 |
| 3.3 外差法测量的实验分析 | 第29-33页 |
| 3.3.1 固定波长工作时的光谱线宽 | 第30-31页 |
| 3.3.2 波长扫描工作时的光谱线宽 | 第31-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 EOM方法测量 | 第34-45页 |
| 4.1 测量系统 | 第34页 |
| 4.2 波长扫描工作时的线宽测量 | 第34-36页 |
| 4.3 FDML激光器的线宽测量 | 第36-43页 |
| 4.3.1 基频和二倍频条件下的输出光谱 | 第36-37页 |
| 4.3.2 基频和二倍频条件下的光谱线宽 | 第37-42页 |
| 4.3.3 不同调制信号占空比条件下的光谱线宽 | 第42-43页 |
| 4.4 本章小结 | 第43-45页 |
| 5 结论 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-49页 |
| 作者简历 | 第49-51页 |
| 学位论文数据集 | 第51页 |
