| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.1.1 选题背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 课题研究意义 | 第10页 |
| 1.1.3 课题来源 | 第10页 |
| 1.2 研究内容及成果 | 第10-11页 |
| 1.3 论文结构安排 | 第11-12页 |
| 第二章 TD-LTE-Advanced一致性测试相关理论概述 | 第12-22页 |
| 2.1 TD-LTE-Advanced射频一致性测试标准分析 | 第12-17页 |
| 2.1.1 TD-LTE-Advanced频谱与信道安排 | 第12-14页 |
| 2.1.2 TD-LTE-Advanced射频一致性测试例 | 第14-17页 |
| 2.2 TD-LTE-Advanced RRM一致性测试标准分析 | 第17-19页 |
| 2.2.1 移动性管理与RRM | 第17-18页 |
| 2.2.2 TD-LTE-Advanced RRM一致性测试例 | 第18-19页 |
| 2.3 射频测试不确定度理论概述 | 第19-22页 |
| 2.3.1 不确定度基本理论 | 第19-20页 |
| 2.3.2 射频测试中的不确定度计算 | 第20-22页 |
| 第三章 系统硬件设计与开发 | 第22-47页 |
| 3.1 系统硬件总体设计 | 第22-25页 |
| 3.1.1 硬件需求分析 | 第22-23页 |
| 3.1.2 硬件架构分析与设计 | 第23-25页 |
| 3.2 系统硬件详细设计与开发 | 第25-40页 |
| 3.2.1 测试原理图分析 | 第25-31页 |
| 3.2.2 微波器件性能分析 | 第31-33页 |
| 3.2.3 射频接口箱端口设计 | 第33-35页 |
| 3.2.4 射频接口箱链路设计与开发 | 第35-40页 |
| 3.3 射频接口箱链路验证 | 第40-47页 |
| 3.3.1 射频参数的测量与验证 | 第41-42页 |
| 3.3.2 测量不确定度的计算与验证 | 第42-47页 |
| 第四章 系统软件设计与开发 | 第47-61页 |
| 4.1 系统软件总体设计 | 第47-48页 |
| 4.2 仪表层详细设计与开发 | 第48-55页 |
| 4.2.1 底层命令交互模块 | 第48-49页 |
| 4.2.2 仪表驱动模块 | 第49-51页 |
| 4.2.3 仪表管理模块 | 第51-55页 |
| 4.3 务层详细设计与开发 | 第55-57页 |
| 4.3.1 执行模块 | 第55-56页 |
| 4.3.2 数据存储模块 | 第56-57页 |
| 4.4 交互界面层详细设计与开发 | 第57-58页 |
| 4.4.1 界面需求分析 | 第57页 |
| 4.4.2 界面详细设计 | 第57-58页 |
| 4.5 软件功能验证 | 第58-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第61页 |
| 5.2 下一步工作展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 缩略语 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
