| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究动态 | 第10-12页 |
| 1.3 本文内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 电离层探测及电子密度剖面反演原理 | 第14-26页 |
| 2.1 电离层相关知识 | 第14-17页 |
| 2.1.1 电离层结构 | 第14-16页 |
| 2.1.2 电离层扰动及影响因素 | 第16-17页 |
| 2.2 电离层无线电探测 | 第17-20页 |
| 2.2.1 电离层无线电探测方法 | 第17-18页 |
| 2.2.2 A-H公式 | 第18-19页 |
| 2.2.3 电离层垂测原理 | 第19-20页 |
| 2.3 垂直探测电离层频高图 | 第20-21页 |
| 2.4 频高图电子密度剖面反演原理 | 第21-26页 |
| 2.4.1 五点积分方程法 | 第22-23页 |
| 2.4.2 抛物线型模型法 | 第23-26页 |
| 第三章 频高图转换方法研究 | 第26-55页 |
| 3.1 频高图图像预处理 | 第26-32页 |
| 3.1.1 滤噪优化 | 第27-31页 |
| 3.1.2 回波描迹增强 | 第31-32页 |
| 3.2 图像格式转换 | 第32-44页 |
| 3.2.1 电离图编辑软件SAO Explorer介绍 | 第32-34页 |
| 3.2.2 电离图SBF格式说明 | 第34-39页 |
| 3.2.3 回波幅度信息格式化 | 第39-41页 |
| 3.2.4 频高图图像处理程序设计 | 第41-44页 |
| 3.3 ARTIST算法 | 第44-50页 |
| 3.3.1 频高图描迹自动度量 | 第44-46页 |
| 3.3.2 电子密度剖面反演 | 第46-50页 |
| 3.4 频高图图像处理分析 | 第50-54页 |
| 3.4.1 特征参数的统计对比分析 | 第50-51页 |
| 3.4.2 转换结果应用分析 | 第51-54页 |
| 3.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 电离层夜间增强现象研究 | 第55-68页 |
| 4.1 电离层观测网络介绍 | 第55-58页 |
| 4.1.1 电离层观测站点 | 第55-56页 |
| 4.1.2 电离层观测环境 | 第56-58页 |
| 4.2 电离层夜间增强现象 | 第58-63页 |
| 4.2.1 午夜前增强现象描述 | 第58-60页 |
| 4.2.2 午夜前增强现象物理机制 | 第60-61页 |
| 4.2.3 午夜后增强现象描述 | 第61-62页 |
| 4.2.4 午夜后增强现象物理机制 | 第62-63页 |
| 4.3 电离层午夜前增强纬向特征 | 第63-67页 |
| 4.3.1 午夜前增强纬向特征现象 | 第63-65页 |
| 4.3.2 午夜前增强纬向特征解释 | 第65-67页 |
| 4.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间的科研工作情况 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |